[实用新型]一种功率器件站立度测量夹具

说明书

本实用新型提供一种功率器件站立度测量夹具，包括：凹形基座，凹形基座的一内侧嵌有至少一个定位凹槽，定位凹槽与待测器件形状相匹配用于容纳所述待测器件，其中，所述定位凹槽的下部为镂空用于显示所述待测器件的引脚；所述凹形基座的另一侧贯穿有与所述定位凹槽相匹配的定位机构，所述定位机构利用弹性形变调节其伸缩行程从而控制是否压紧所述待测器件。当将待测器件放入到定位凹槽时，使定位机构的弹性形变由压缩到恢复原状的伸长状态，夹紧待测器件方便后续直接测量其引脚站立高度，本装置结构简单，操作简便且成本低廉，能够防止样本在测量时发生倾斜导致测量不准，同时，可根据待测器件厚度随意调节定位的导柱，提高了其通用性。

技术领域

本实用新型涉及半导体器件检测技术领域，特别是涉及一种功率器件站立度测量夹具。

背景技术

现有技术中利用台式放大镜测量半导体功率器件站立度(即，引脚站立高度)时，半导体功率器件需垂直或平行于载物台，否则会影响检测结果。然而，现有半导体功率器件站立度测量时，需要使用双面胶将该器件贴到一个长方体治具上，如图1所示，双面胶有一定厚度而且不能保证器件是完全垂直或平行于载物台，导致测量的站立度(数据)不准确。

实用新型内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提供一种功率器件站立度测量夹具，用于解决现有技术中因半导体功率器件放置倾斜，导致测量的站立度不准确的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本实用新型提供一种功率器件站立度测量夹具，包括：

凹形基座，

所述凹形基座的一内侧嵌有至少一个定位凹槽，所述定位凹槽与待测器件形状相匹配用于容纳所述待测器件，其中，所述定位凹槽的下部为镂空用于显示所述待测器件的引脚；

所述凹形基座的另一侧贯穿有与所述定位凹槽相匹配的定位机构，所述定位机构利用弹性形变调节其伸缩行程从而控制是否压紧所述待测器件。

于本实用新型的一实施例中，所述定位机构的弹性形变处于压缩时其行程收缩可放置所述待测器件；所述定位机构的弹性形变处于伸长时其行程伸长压紧所述待测器件。

于本实用新型的一实施例中，所述定位机构包括定位块、拉杆、导柱与弹簧，所述导柱贯穿于所述凹形基座的一侧，所述拉杆连接在所述导柱的顶部，所述定位块固定在所述导柱的底端；所述弹簧贯穿在所述导柱上依靠所述拉杆控制所述弹簧形变。

于本实用新型的一实施例中，所述拉杆表面均匀嵌有防滑的槽纹。

于本实用新型的一实施例中，所述定位块为与待测器件表面的封装体相符的金属块。

于本实用新型的一实施例中，所述拉杆末端连接有控制所述导柱上下活动的驱动机构。

于本实用新型的一实施例中，所述定位凹槽包括容纳所述待测器件的引脚的第一定位凹槽与容纳所述待测器件的封装结构且与定位机构相匹配的第二定位凹槽，所述第一定位凹槽与第二定位凹槽相邻设置。

于本实用新型的一实施例中，所述第一定位凹槽设有可容纳防止所述待测器件倾斜的固定块。

于本实用新型的一实施例中，所述第一凹槽与第二凹槽下部均为镂空。

于本实用新型的一实施例中，利用台式放大镜或测量投影仪从定位凹槽的下部测量待测器件的引脚站立高度。

于本实用新型的一实施例中，所述待测器件为功率器件，所述功率器件包括电力二极管晶闸管、绝缘栅双极型晶体管、功率晶体管、可关断晶闸管或电力场效应管中任意一种。

如上所述，本实用新型的功率器件站立度测量夹具，具有以下有益效果：