[实用新型]一种电路板的新型测试结构

说明书

本实用新型旨在提供一种适用性广、实用性强、占用空间小并且能有效节省生产成本的电路板的新型测试结构。本实用新型包括针点板、测量母板以及若干个B2B连接器，所述针点板通过若干个所述B2B连接器与所述测量母板电信号连接，所述针点板上设有若干个针点孔以及与若干个所述针点孔一一对应的测试针，所述测试针与所述针点板电信号连接，所述测量母板电信号连接有控制电路。本实用新型应用于电路板测试的技术领域。

技术领域

本实用新型涉及一种电路板测试的技术领域，特别涉及一种电路板的新型测试结构。

背景技术

如今FCT测试治具主要使用测试针与PCB上的测试点相接触，将PCB上的测试点的电气信息，通过测试针传递到外部测试设备上，对测试单板进行测试。现有的FCT测试治具主要存在以下缺陷：1.使用针点板与测量母板结合的测试方案要求设计时针点位置一定要精确，一旦针点有少许偏差，整块板子都会报废，包括测量部分；2.FCT现有测试方案在故障排除时难免会不断拆装设备：一方面会花费大量的时间再装配上米娜；另一方面多次拆装有可能对针点的PAD的点产生损坏，一旦损坏就需要整套更换；3.对于升级的产品，如产品针点出现变动，就需要重新设计板子对测试设备进行测试，兼容性差；4.将针点与测量母板分离设计，可以大大减小板子的设计长度，减少占用的空间，有利于将夹具整体大小做一个缩减。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种适用性广、实用性强、占用空间小并且能有效节省生产成本的电路板的新型测试结构。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括针点板、测量母板以及若干个B2B连接器，所述针点板通过若干个所述B2B连接器与所述测量母板电信号连接，所述针点板上设有若干个针点孔以及与若干个所述针点孔一一对应的测试针，所述测试针与所述针点板电信号连接，所述测量母板电信号连接有控制电路。

进一步地，所述测量母板上均设有凹槽，所述凹槽上设有与所述测量母板电信号连接的接触点，所述B2B连接器适配安装在所述凹槽上并与所述接触点电信号连接。

进一步地，所述针点板底部上均设置有母头连接器，所述母头连接器与所述B2B连接器可拆装连接。

进一步地，所述测量母板上设有若干个接头模块。

本实用新型的有益效果：本实用新型包括针点板、测量母板以及若干个B2B连接器，所述针点板通过若干个所述B2B连接器与所述测量母板电信号连接，所述针点板上设有若干个针点孔以及与若干个所述针点孔一一对应的测试针，所述测试针与所述针点板电信号连接，所述测量母板电信号连接有控制电路，所以，所述针点孔用于安装所述测试针，所述测试针与产品配套设置，通过将所述针点板上的所述测试针与电路板产品相接触，其产品的性能数据依次经由所述针点板、所述B2B连接器和所述测量母板，最终通过所述控制电路传输到后台电脑设备上显示，因此，在本方案中，通过更换不同针点孔结构的针点板并在针点孔安装相应的测试针，即可完成不同型号产品的性能测试，其适用性广，实用性强；另外，由于在测试的过程中，其测试针结构安装在针点板上，日常损耗一般发生在测试针或针点板上，因此在日常维护中，只需通过更换测试针或针点板，即可完成维护，与传统测试方式相比，本实用新型无需更换整个测试结构，能有效节省生产成本并且更换维护更为简单、方便。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型的爆炸示意图；

图3是现有技术的原理图；

图4是本实用新型的原理图。

具体实施方式

如图1、图2和图4所示，在本实施例中，本实用新型包括针点板1、测量母板2以及若干个B2B连接器3，所述针点板1通过若干个所述B2B连接器3与所述测量母板2电信号连接，所述测量母板2电信号连接有控制电路5，所述测量母板2上设有若干个接头模块7，所述测量母板2上均设有凹槽6，所述凹槽6上设有与所述测量母板2电信号连接的接触点，所述B2B连接器3适配安装在所述凹槽6上并与所述接触点电信号连接，所述针点板1上设有若干个针点孔4以及与若干个所述针点孔4一一对应的测试针，所述测试针与所述针点板1电信号连接，所述针点板1底部上均设置有母头连接器，所述母头连接器与所述B2B连接器3可拆装连接，此设计中，所述测量母板2通过LAN线连接后台电脑设备；所述B2B连接器3上设有若干个引脚，所述B2B连接器3可通过若干个引脚与所述母头连接器电信号连接；所述测量母板2可通过若干个所述接头模块7连接不同测试功能的测试设备，包括电压、电流、功率以及频率功能测试，以此完成对产品进行不同的功能测试，其适用范围广，实用性强；综上，本实用新型通过分离针点板1及测量母板2的连接方式，大大减少了产品升级换代因针点变化及针点部分故障导致需更换板卡时造成的成本浪费；通过B2B连接器3连接两者，可以做到拔插方便，能避免故障排查及维修时对测试板多次拆装的时间浪费，大大提高测试效率，并且通过分离的连接方式，可以大大缩小机台需要的纵向空间范围。