[实用新型]一种磁石磁场测量装置和磁石磁场测量系统有效
申请号: | 201921313237.X | 申请日: | 2019-08-13 |
公开(公告)号: | CN211206761U | 公开(公告)日: | 2020-08-07 |
发明(设计)人: | 焦卫东 | 申请(专利权)人: | 骏材(深圳)科技工程有限公司 |
主分类号: | G01R33/02 | 分类号: | G01R33/02;G01R33/12 |
代理公司: | 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 | 代理人: | 邢涛 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区沙*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 磁石 磁场 测量 装置 系统 | ||
本申请公开了一种磁石磁场测量装置和磁石磁场测量系统,包括基座、第一定位块、第二定位块和测试探头;第一定位块包括第一凸台和第二凸台,第一定位块设置在基座的一侧,第一凸台和第二凸台都位于第一定位块的同一侧;第二定位块设置在基座的一侧,且与第一定位块同侧,与第一定位块相对间隔设置;第二定位块包括第三凸台和第四凸台,第三凸台和第四凸台都位于第二定位块的同一侧,与第一凸台和第二凸台对应间隔设置;测试探头位于第一凸台和第三凸台的间隙之间;其中,第一定位块和第二定位块具有导磁性。测试探头测试第二凸台和第三凸台之间的间隙磁场,只需要变动不同的待测磁石即可,自动化程度高,效率高,测量数据结果一致性好。
技术领域
本申请涉及微小磁石的磁场自动化检测领域,尤其涉及一种磁石磁场测量装置和磁石磁场测量系统。
背景技术
随着人们对磁性产品性能要求的不断增加,磁性产品的磁场检测方法也在相应的不断提高。目前的人工检测对于直径和高度较小的磁性产品的检测精度较低,会产生较大误差。
实用新型内容
本申请的目的是提供一种检测磁性产品磁场精度较高的一种磁石磁场测量装置和磁石磁场测量系统。
本申请公开了一种磁石磁场测量装置,包括基座、第一定位块、第二定位块和测试探头;所述第一定位块包括第一凸台和第二凸台,所述第一定位块设置在基座的一侧,所述第一凸台和所述第二凸台都位于所述第一定位块的同一侧;所述第二定位块设置在基座的一侧,与第一定位块同侧;所述第二定位块与所述第一定位块相对间隔设置;所述第二定位块包括第三凸台和第四凸台,所述第三凸台和所述第四凸台都位于所述第二定位块靠近第一定位块一侧,所述第一凸台和第二凸台都位于所述第一定位块靠近第二定位块的一侧;所述第三凸台和第四凸台分别与所述第一凸台和所述第二凸台对应间隔设置;所述测试探头位于所述第二凸台和所述第四凸台的间隙之间;其中,所述第一定位块和所述第二定位块具有导磁性。
可选的,所述磁石磁场测量装置包括第一凸板,所述基座设置有第一凹槽,所述第一凹槽自与第一定位块对应的基座一侧设置到基座的另一侧;所述测试探头设置在所述第一凸板上,所述第一凸板设置在所述第一凹槽内;所述第二凸台和第四凸台之间的间隙对应所述第一凹槽。
可选的,所述第一凸板的形状为长方体凸台,所述第一凹槽的形状为长方体凹槽,所述第一凹槽贯穿所述基座相对设置的两个平面,所述第一凹槽对所述基座的贯穿方向与所述第一凹槽长边延伸的方向一致,所述第一凸板的长边大于所述第一凹槽的长边。
可选的,所述第一凸板的形状为长方体凸台,所述第一凹槽的形状为长方体凹槽,所述第一凸板的短边大于所述第一凹槽的短边。
可选的,所述第一定位块远离所述第一凸台和第二凸台的一侧设置有第一通孔,所述第二定位块远离所述第三凸台和第四凸台的一侧设置有第二通孔,所述基座包括第二凹槽和固定件,所述固定件与所述第一通孔、第二通孔和第二凹槽连接,所述固定件通过所述第一通孔将所述第一定位块固定在所述基座上,所述固定件通过所述第二通孔将所述第二定位块固定在所述基座上。
可选的,所述固定件为螺钉,所述第二凹槽上有与所述螺钉相配合的螺纹。
可选的,所述第一通孔的数量为至少两个,所述第二通孔的数量至少为两个,所述第二凹槽的数量至少为四个,且分别与所述第一通孔和第二通孔对应设置在所述基座上。
可选的,所述第一定位块和所述第二定位块的材质为低碳钢。
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