[实用新型]一种改良的光学检测仪对标装置

说明书

一种改良的光学检测仪对标装置，主要由底座机架、平台、导轨、固定块、CCD近程安装机构、伸臂组成，所述底座机架主要由低面和高面组成，所述低面上用于安放物件的平台，所述的高面至少有导轨、固定块和CCD近程安装机构，所述的导轨上具有两个能在导轨X轴方向移动的固定块，所述的固定块装有CCD近程安装机构，所述的CCD近程安装机构末端有第一CCD安装位，所述的第一CCD安装位是用于安装CCD用以检测产品上近程探照点，所述的伸臂是CCD近程安装机构上的Y轴方向的一个延伸，伸臂末端有一个第二CCD安装位，所述的第二CCD安装位可以实现CCD对产品Y轴方向上的远程探照点检测，最终实现一个平面的三点检测。

技术领域

本实用新型涉及一种光学检测仪对标装置，特别是一种改良的光学检测仪对标装置。

背景技术

光学检测仪对标是采用CCD检测技术的一种非接触式在线实时检测的精度较高的对标，特别适用于幅面尺寸较小、但尺寸精度、弯曲度和透光度要求较高的例如触摸屏等玻璃基板的印刷、贴合及切割工序都需要先通过CCD检测技术来进行对标作业，然后再进行下一步的工序，传统的CCD对标仅通过两个CCD近程安装机构在导轨(3)来回移动对近边CCD探照位(201)进行对标，一旦待加工物件长度较长，或尺寸较大，其仅通过近边的对标会影响其制造精度。

有鉴于此，本发明人针对现有技术中的上述缺陷深入研究，遂有本案产生。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提出一种改良的光学检测仪对标装置。这种对标装置改变了原有对标仅针对近边进行对标，同时还能对物件的远边也进行对标，对于尺寸较大的物件可实现三点检测，从而提高了对待加工物品对标的精度，也提高其制造精度。采用的技术方案如下：

一种改良的光学检测仪对标装置，主要由底座机架、平台、导轨、移动固定块、CCD近程安装机构、伸臂组成，所述底座机架主要由低面和高面组成，所述低面上用于安放物件的平台，所述的高面至少有导轨、固定块和近程安装机构，所述的导轨上具有两个能在导轨X 轴方向移动的固定块，所述的固定块装有CCD近程安装机构，所述的CCD近程安装机构末端有第一CCD安装位，所述的第一CCD安装位是用于安装CCD用以检测产品上近程探照点，所述的伸臂是CCD近程安装机构上的Y轴方向的一个延伸，伸臂末端有一个第二CCD安装位，所述的第二CCD安装位可以实现CCD对产品Y轴方向上的远程探照点检测，最终实现一个平面的三点检测。

进一步，所述伸臂主要由固定支架和Y轴移动支架组成,所述的固定支架呈封闭的H形，固定支架一端固定在移动固定块上，靠近固定处的镂空处能避开近程CCD的检测，固定支架另一端具有Y轴调节旋钮，该旋钮用于固定配合Y轴移动支架内的齿轮条，通过调节Y轴调节旋钮使伸臂在Y轴上能够伸缩调节。

进一步，所述Y轴移动支架末端还有一个微调装置，所述Y轴移动支架末端由第二螺栓、 L形挡块、限位块组成，所述第二螺栓安装在L形挡块短边上，所述L形挡块和限位块是固定在Y轴移动支架末端上且之间会形成一个容纳槽。

进一步，所述微调装置至少由X轴微调块和具有放置CCD位的Y轴微调块组成，所述X 轴微调块放置在Y轴移动支架末端的容纳槽内，且通过L形挡块短边上第二螺栓可对X轴微调块的侧面进行X轴方向调动，所述X轴微调块具有插入槽和X轴方向沟槽，所述限位块位于沟槽内，保证X轴微调块不会从Y轴方向移动架脱落，所述的Y轴微调块间隙嵌入X轴微调块的插入槽内，所述Y轴微调块底面抵靠在X轴微调块的调节端上，该调节端上设有能够调节Y轴微调块沿Y轴方向的调动的第一螺栓。

进一步，所述伸臂上微调固定，通过第三螺栓对X轴微调块横向第一螺纹槽与Y轴微调块纵向第二螺纹槽十字交叉固定。

附图说明

图1是习用产品的轴测图；

图2是本实用新型产品的轴测图；

图3是本实用新型的伸臂局示意图；