[实用新型]一种光轴一致性检测装置有效

专利信息
申请号: 201921334903.8 申请日: 2019-08-16
公开(公告)号: CN210774617U 公开(公告)日: 2020-06-16
发明(设计)人: 伍晓东;黄微;杨志锋;林滨 申请(专利权)人: 深圳市捍卫者安全装备有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 深圳市海盛达知识产权代理事务所(普通合伙) 44540 代理人: 孙晓宇
地址: 518109 广东省深圳市龙华区大浪*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 光轴 一致性 检测 装置
【说明书】:

实用新型提供了一种光轴一致性检测装置,其包括光学平台和光轴平行度检测机构,所述光学平台上设有平行光管,所述平行光管包括离轴抛物面反射镜和平面反射镜,所述离轴抛物面反射镜和平面反射镜错开设置;所述光轴平行度检测机构包括照明光源、光接收分析构件和移动组件,所述照明光源、光接收分析构件与移动组件连接,待测平行光照射到离轴抛物面反射镜的反射面上,反射后通过平面反射镜射向光接收分析构件进行检测。采用本实用新型的技术方案,结构简单,可以更加方便对激光设备进行测量和校准,保证多光路探测器光轴的平行性和一致性,维护方便。

技术领域

本实用新型属于光学技术领域,涉及一种光轴一致性检测装置。

背景技术

随着光电系统综合技术的不断发展,多光谱、共光路探测已成为必然趋势,多光谱、共光路光电系统的光轴平行性问题成为衡量系统件能的一个重要内容,因此对多光路探测器光轴平行性的测量至关重要,而现在还没有这样的设备可以满足上述要求,亟待解决。

实用新型内容

针对以上技术问题,本实用新型公开了一种光轴一致性检测装置,可以更加方便对激光设备进行测量和校准,保证多光路探测器光轴的平行性和一致性。

对此,本实用新型采用的技术方案为:

一种光轴一致性检测装置,其包括光学平台和光轴平行度检测机构,所述光学平台上设有平行光管,所述平行光管包括离轴抛物面反射镜和平面反射镜,所述离轴抛物面反射镜和平面反射镜错开设置;

所述光轴平行度检测机构包括照明光源、光接收分析构件和移动组件,所述照明光源、光接收分析构件与移动组件连接,待测平行光照射到离轴抛物面反射镜的反射面上,反射后通过平面反射镜射向光接收分析构件进行检测。

其中离轴抛物面反射镜可以将点光源准直为高质量的无中心遮拦的平行光束,或将平行光束完美的聚焦为一点。尤其是对于多波长或者宽光谱光源来讲,可大大提高光束准直及聚焦能力。光学平台用作平行光的固定、安装以及调试平台,供水平、稳定光学元件的台面,一般平台都需要进行隔振等措施,系统基本不会受外来扰动而产生变化。采用此技术方案,使瞄准探测器和激光器发射器光轴一致,通过平行光管校准,光接收分析构件对准或跟踪被测光目标,使目标始终在被测试设备的视场内,可以通过调节瞄准探测器和激光器发射器的相对位置,使它们的光轴基本一致。

作为本实用新型的进一步改进,所述离轴抛物面反射镜的口径不小于500mm。

进一步的,所述离轴抛物面反射镜的口径为550mm。

作为本实用新型的进一步改进,所述离轴抛物面反射镜的表面粗糙度为

作为本实用新型的进一步改进,所述光接收分析构件包括光斑分析组件和用于测量光发射轴与跟踪轴不平行度的感光相纸。所述光斑分析组件用于光发射光轴与跟踪轴不平行度的测量以及焦斑光束质量的分析测试;所述感光相纸用于光发射轴与跟踪轴不平行度的测量。

作为本实用新型的进一步改进,所述光斑分析组件包括光电跟踪仪。

作为本实用新型的进一步改进,所述移动组件包括导轨和滑块,所述照明光源、光接收分析构件与滑块连接。

作为本实用新型的进一步改进,所述光轴平行度检测机构还包括标校设备、光学回转台,所述标校设备包括短筒长焦平行光管、平面反射镜、高斯目镜和显微镜,用于对系统进行定期调校与维护;所述光学回转台与被测试设备连接,为小型光学被测试设备提供支撑平台。

作为本实用新型的进一步改进,所述光轴一致性检测装置包括分划板组件,所述照明光源包括可见光光源、红外光光源。

作为本实用新型的进一步改进,所述照明光源位于平行光管的焦点处。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果为:

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