[实用新型]一种用于测量深孔位置的测头有效
申请号: | 201921338281.6 | 申请日: | 2019-08-16 |
公开(公告)号: | CN210718891U | 公开(公告)日: | 2020-06-09 |
发明(设计)人: | 王旭;谭延军 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业集团公司西安飞行自动控制研究所 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00;G01B5/06 |
代理公司: | 中国航空专利中心 11008 | 代理人: | 王世磊 |
地址: | 710076 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 测量 位置 | ||
本实用新型提供一种用于测量深孔位置的测头,该测头结构包括测杆和测针,测杆的一端端面设置方槽;测针的一端设置连接头,连接头固定设置于方槽内,测针的另一端设置有测球。本实用新型提供一种用于测量深孔位置的测头,可以用于测高仪上进行深孔位置测量。
技术领域
本实用新型属于机械加工检验技术,具体涉及一种用于测高仪上测量大型结构件深孔位置的测头。
背景技术
平台在测量大型结构件深孔孔位时,测高仪测量杆与孔壁发生干涉导致测量数据不准确。
现有方法是使用三坐标测量机测量深孔,计算出深孔的孔位。此方法虽精度较高,但检测水平要求高、检测资源有限,容易造成加工等待。
实用新型内容
本实用新型的目的,提供一种用于测量深孔位置的测头,用于测高仪测量上以测量深孔位置。
本实用新型提供的用于测量深孔位置的测头,包括测杆1和测针6,测杆1 的一端端面设置方槽2;测针6的一端设置连接头60,连接头60固定设置于方槽2内,测针6的另一端设置有测球5。
进一步地,测针6垂直轴线方向的截面面积从靠近连接头60一侧向靠近测球5一侧逐渐减小。
进一步地,测针6与测球5一体成型。
进一步地,测球5为球体结构,测球5的轮廓度在0.002-0.005mm。
进一步地,测针6和测球5的材料为硬质合金。
进一步地,测杆1上方槽两侧设置有螺纹孔3,连接头60对应设置螺钉孔 7,设置螺钉4,螺钉4固定连接连接头60和测杆1。
进一步地,连接头60为半圆形结构,连接头60平行轴线方向的两个侧面与方槽2对应的两侧面之间的间隙距离为0.02-0.05mm。
本实用新型的技术效果:
在进行结构件深孔孔位测量时,将本实用新型提供的测头安装于测高仪上即可快速测量,操作简单、快捷。
测针和测球的材料为硬质合金,采用硬质合金减小测量过程中测针和测球的弹性变形,提高测量精度。
控制测球5的轮廓度,可以减少测量误差,提高测量精度。
解决了功能孔深孔无法在现场平台测量的问题,大幅度提升了检测、检验的可靠性及效率;该测头在测高仪上均可使用,具有一定的适用性和推广性。
附图说明
图1为本实用新型的用于测量深孔位置的测头的结构示意图;
图2为本实用新型的用于测量深孔位置的测头组装后结构示意图;
附图标记说明:1-测杆,2-方槽,3-螺纹孔,4-螺钉,5-测球,6-测针, 7-螺钉孔,60-连接头。
具体实施方式
下面结合说明书附图对本实用新型进行说明。
图1为本实用新型的用于测量深孔位置的测头的结构示意图。如图1所示,本实用新型提供的用于测量深孔位置的测头,包括测杆1和测针6,测杆1的一端端面设置方槽2;测针6的一端设置连接头60,连接头60固定设置于方槽 2内,测针6的另一端设置有测球5。
本实用新型提供的用于测量深孔位置的测头,用于测高仪上进行深孔位置测量,操作简单、快捷。
进一步地,测针6垂直轴线方向的截面面积从靠近连接头60一侧向靠近测球5一侧逐渐减小,采用该测针6结构减少深孔测量过程中的干扰。测针6与测球5一体成型。
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