[实用新型]一种新型测试设备

说明书

本实用新型公开了一种新型测试设备，旨在提供一种下针密度大、精度高的便于产品升级和维护以及经济性较好的新型测试设备。本实用新型包括设备本体、抽屉和压板，抽屉滑动设置在设备本体内，设备本体的两边的内侧均设置有下压装置，压板的两端分别与对应的下压装置相连接且位于抽屉的上方，抽屉上设置有与压板相配合的PCBA板测试组件，PCBA板测试组件包括由上至下依次设置的载板、针板、WIB板和SIB板，载板和WIB板均与针板相配合，WIB板与SIB板相配合，测试时，待测试PCBA板放置在载板上，下压装置下压，针板上的探针的上端穿过载板与PCBA板接触，探针的下端与WIB板接触。本实用新型可应用于检测设备的技术领域。

技术领域

本实用新型可应用于检测设备的技术领域，涉及一种新型测试设备。

背景技术

功能类测试冶具：PCBA功能测试的设备。测试对象为PCBA电路板，通过探针作为PCBA板与外部电路接触媒介进行相应测试，包括电压、电流、功率、功率因素、频率、占空比；扫码读取、字符识别、声音识别；温度测量、压力测量、运动控制、FLASH和EEPROM烧录等。

探针：电测试的接触媒介，实现外部电路与目标PCBA板的连通。探针包括测试探针、半导体探针、ICT探针、高频探针、高电流探针、电池接触探针等。

:无线接口板，与探针尾部连接，接收探针从测试PCBA板采集的信号，无任何信号处理或功能测试。

: 信号接口板，将从WIB传输的信号处理并测试，包含主要外部测试用功能板卡。

下针式结构在PCBA测试夹具应用极及广泛，一般是从上到下由压板、载板、托盘、进出抽屉、针板和测试板卡组成。压板（包含压棒、上端测试探针）固定在夹具最上方，通过气缸驱动在垂直方向升、降。载板布置在压板下方，进出抽屉托盘上搭载载板和测试PCBA板进、出夹具，载板可上、下浮动，使PCBA产品可跟随压板上升、下降，同时，载板上开导针孔，使下层针板上的探针可穿过载板接触PCBA板的测试点。针板布置在载板之下，用于固定探针，探针位置取决于测试PCBA板自身元件和测试点布置。针板下层是测试板卡，测试板卡上表面预留测试点与探针尾部接触，测试板卡上的测试点、探针和测试PCBA上的测试点一一对应，测试板卡接收探针从测试PCBA板采集的信号并进行信号处理和测试。

在现有测试设备中，针板和测试板卡整体固定在夹具内部不可移动，为了保证进出抽屉上的载板与PCBA产品进、出夹具，针板与抽屉托盘之间会预留较大间隙，以防止抽屉进、出时撞击到针板上的探针；结构针板与抽屉托盘上的载板分离，针板与抽屉托盘之间预留较大间隙，为使针板上探针顺利穿过载板的导针孔，导针孔的直径大于探针针头直径0.1mm-0.12mm的针孔加大使相邻探针间隔距离增加，不利于PCBA板高密度、高精度下针；由于测试板卡的测试点、探针和测试PCBA测试点为一一对应关系，产品的升级，导致测试板卡与针板需重新布局和生产，无法重复利用，使PCBA夹具的生产成本高昂，生产周期长，经济性较差；产品升级更换针板和测试板卡，而针板和测试板卡整体固定在夹具内部，产品升级和维护难。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种下针密度大、精度高的便于产品升级和维护以及经济性较好的新型测试设备。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括设备本体、抽屉和压板，所述抽屉滑动设置在所述设备本体内，所述设备本体的两边的内侧均设置有下压装置，所述压板的两端分别与对应的所述下压装置相连接且位于所述抽屉的上方，所述抽屉上设置有与所述压板相配合的PCBA板测试组件，所述PCBA板测试组件包括由上至下依次设置的载板、针板、WIB板和SIB板，所述载板和所述WIB板均与所述针板相配合，所述WIB板与所述SIB板相配合，测试时，待测试PCBA板放置在所述载板上，所述下压装置下压，所述针板上的探针的上端穿过所述载板与PCBA板接触，探针的下端与所述WIB板接触。