[实用新型]相控阵检测校准用试块有效

专利信息
申请号: 201921373330.X 申请日: 2019-08-22
公开(公告)号: CN210775348U 公开(公告)日: 2020-06-16
发明(设计)人: 郭剑豪;王欢;顾伟群 申请(专利权)人: 上海贤达美尔森过程设备有限公司
主分类号: G01N29/30 分类号: G01N29/30
代理公司: 上海三和万国知识产权代理事务所(普通合伙) 31230 代理人: 陈伟勇
地址: 201411 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 相控阵 检测 校准 用试块
【说明书】:

实用新型涉及相控阵检测。相控阵检测校准用试块,包括呈方形状的块状体,以块状体位于右侧的端面为右侧面、以块状体位于前方的端面为前侧面、以块状体位于后方的端面为后侧面、以块状体位于左侧的端面为左侧面,块状体的右侧设有凹陷,块状体的左侧连接有一个呈三角状的第一凸起块,块状体的左侧还连接有一个呈梯形状的第二凸起块,第二凸起块的横截面积大于第一凸起块的横截面积,第一凸起块位于下方的端面连接第二凸起位于上方的端面;块状体上开有上下贯穿的第一通孔、第二通孔。本实用新型用于校准相控阵检测仪器。

技术领域

本实用新型涉及检测领域,具体涉及相控阵检测。

背景技术

超声相控阵是超声探头晶片的组合,由多个压电晶片按一定的规律分布排列,然后逐次按预先规定的延迟时间激发各个晶片,所有晶片发射的超声波形成一个整体波阵面,能有效地控制发射超声束(波阵面)的形状和方向,多用于焊缝检测。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种相控阵检测校准用试块,用于校准相控阵检测仪器。

本实用新型所解决的问题可以采用以下技术方案来实现:

相控阵检测校准用试块,包括呈方形状的块状体,以所述块状体位于右侧的端面为右侧面、以所述块状体位于前方的端面为前侧面、以所述块状体位于后方的端面为后侧面、以所述块状体位于左侧的端面为左侧面,其特征在于,所述块状体的右侧设有凹陷,所述凹陷的横截面包括第一弧形边,所述第一弧形边的两端各连接一个直边,分别是第一直边、第二直边,所述第一直边、所述第二直边分别跟各自与第一弧形边的连接点处的切线重合;

所述块状体的左侧连接有一个呈三角状的第一凸起块,所述第一凸起块的横截面的外轮廓由第一直角边、第二直角边、第二弧形边顺序连接后围成,所述第一直角边连接所述左侧面,所述第二直角边所在的面与所述后侧面重合;

所述块状体的左侧还连接有一个呈梯形状的第二凸起块,所述第二凸起块的横截面的外轮廓由第三直角边、第四直角边、第三弧形边、第五直角边顺序连接后围成,所述第三直角边连接所述左侧面,所述第四直角边所在的面与所述后侧面重合;

所述块状体的厚度为40mm,所述第一凸起块的厚度为27.5mm,所述第二凸起块的厚度为12.5mm,所述第二凸起块的横截面积大于所述第一凸起块的横截面积,所述第一凸起块位于下方的端面连接所述第二凸起位于上方的端面;

所述块状体上开有上下贯穿的第一通孔、第二通孔,所述第一通孔的孔径为3mm,所述第一通孔靠近所述块状体的左侧面,所述第二通孔的孔径为1.6mm,所述第一通孔靠近所述块状体的右侧面。

所述块状体、所述第一凸起块、所述第二凸起块均优选纯镍材料制成。以用于针对镍相材料进行检测的相控阵检测仪器进行校准。

所述块状体的宽度为100mm,第一直角边、第二直角边的长度均为50mm,所述第二弧形边为半径为50mm的四分之一圆弧;

第三直角边的长度为91mm,所述第四直角边的长度为100mm,第三弧形边为半径为100mm的圆弧。

所述第一通孔有四个,四个第一通孔等间距排布,相邻的两个第一通孔的中心轴线之间的距离为15mm;

四个第一通孔过中心轴线的连线平行与所述左侧面,且与所述左侧面的距离为25mm;

最靠近所述后侧面的第一通孔的中心轴线到所述后侧面的距离为15mm。

所述第一弧形边为半径为6mm的圆弧边,所述第一弧形边的圆心到所述右侧面的距离为24.8mm,所述第一弧形边的圆心到所述前侧面的距离为61.8mm;

所述第一直边的长度为50mm,所述第一直边到所述后侧面的最小距离为5mm,所述第一直边与所述后侧面的夹角为45°;

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