[实用新型]放射性物位测量设备

说明书

本实用新型涉及放射性物位测量设备。该物位测量设备用于物位测量、限位测量、密度测量、流量测量和/或质量流量测量，所述物位测量设备的特征在于包括：第一闪烁体(31)，其被构造为检测来自伽马射线发射器(20)的放射性辐射，并响应于放射性辐射而发射第一光信号；第二闪烁体(32)，其被构造为检测来自所述第二闪烁体(32)的放射性辐射，并响应于放射性辐射而发射第二光信号，其中，所述第二光信号与所述第一光信号不同；光电探测器(40)，其被构造为接收所述第一光信号和所述第二光信号，并将它们转换为电信号；和比较器(47)，其被构造成比较所述电信号与存储的参考电信号，其中，所述光电探测器(40)的增益响应于所述比较而被调整。

技术领域

本实用新型涉及一种用于物位测量、密度测量和/或质量流量测量的放射性物位测量设备。特别地，本实用新型涉及一种用于补偿在放射性 (radiometrischen)物位测量设备中使用的闪烁体和/或光电探测器的测量误差的方法。另外，本实用新型还涉及用途、程序元件和计算机可读介质。

背景技术

例如，可以使用放射性物位测量设备来测量例如容器中的填充材料的特定物位，也就是指示是否已达到容器中的物位的预定的上限值、下限值或其他限值。容器可以是任何形状的器皿或计量箱。容器也可以是沟渠，例如溪床或河床。

例如，放射性物位测量设备可以使用伽马射线发射器来发射辐射信号和/或伽马射线，辐射信号和/或伽马射线可以由探测器接收以用于测量目的。探测器可包含闪烁体，该闪烁体在被如伽马射线击中时发射光信号。在至少一些闪烁体中，光信号的振幅和/或频率可能受闪烁体的温度影响，从而产生与标准测量相比的测量误差。这样的测量误差可能影响测量的准确度。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种放射性物位测量设备。

本实用新型的第一方面涉及一种补偿用于物位测量的放射性物位测量设备的第一闪烁体和/或光电探测器的测量误差的方法，该方法包括如下步骤：

-通过第二闪烁体检测第二闪烁体的放射性辐射；

-响应于放射性辐射，从第一闪烁体发射第一光信号并且从第二闪烁体发射第二光信号，其中，第一光信号与第二光信号不同；

-通过光电探测器接收来自第一闪烁体的第一光信号和来自第二闪烁体的第二光信号，并将这些光信号转换成电信号；

-通过比较器比较电信号和存储的参考信号；并且

-响应于电信号和存储的参考信号的比较，调整光电探测器的增益。

例如，放射性物位测量设备用于填充材料的物位测量和/或其他测量，例如用于测量填充材料的物位、密度和/或流量。放射性物位测量设备具有第一闪烁体和光电探测器。闪烁体在被例如放射性辐射击中时发射光信号。第一闪烁体是主闪烁体，它的测量结果被放射性物位测量设备使用。光电探测器可以是例如光电倍增器、光电倍增管(PMT)、所谓的微通道板型光电倍增管(MCP-PMT)、硅光电倍增管(例如雪崩光电二极管)、光电二极管阵列和/或其他探测器。第一闪烁体和/或光电探测器可能存在例如由温度差异和/或这些部件中的至少一者的老化引起的测量误差。

在该方法的一个步骤中，第二闪烁体检测来自其自身的放射性成分的放射性辐射。

在该方法的一个步骤中，响应于放射性辐射，从第一闪烁体发射第一光信号，并且从第二闪烁体发射第二光信号。第一光信号在例如振幅、颜色和/或其他特征方面不同于第二光信号。

在该方法的一个步骤中，光电探测器接收来自第一闪烁体的第一光信号和来自第二闪烁体的第二光信号。光电探测器将光信号转换成电信号或者电脉冲。为了评估由光电探测器产生的电脉冲，可以使用例如放大器及下游的区分装置和/或放大器及下游的脉冲振幅测量装置。