[实用新型]一种适用于磨抛样品的免镶嵌夹具有效

专利信息
申请号: 201921380272.3 申请日: 2019-08-23
公开(公告)号: CN210650184U 公开(公告)日: 2020-06-02
发明(设计)人: 郜鲜辉 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: B24B41/06 分类号: B24B41/06;G01N1/28;G01N1/32
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 孔娜;曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 适用于 样品 镶嵌 夹具
【说明书】:

实用新型属于分析用试验设备相关技术领域,其公开了一种适用于磨抛样品的免镶嵌夹具,所述夹具包括配合体、承载机构、横向螺钉、纵向螺钉及第二螺钉,所述配合体可分离地连接于所述承载机构,其通过沿垂直方向的移动来连接于所述承载机构或者与所述承载机构相脱离;所述承载机构开设有收容槽,所述收容槽用于收容待磨抛的样品;所述横向螺钉及所述纵向螺钉分别螺纹连接于所述承载机构,且分别与所述承载机构相配合以用于对所述样品进行水平方向的固定;所述第二螺钉螺纹连接于所述配合体,其穿过所述配合体以用于将所述样品进行垂直方向的固定,实现了所述样品的定位。本实用新型提高了稳定性,且结构简单,适用性较强。

技术领域

本实用新型属于分析用试验设备相关技术领域,更具体地,涉及一种适用于磨抛样品的免镶嵌夹具。

背景技术

对样品进行分析及试验的过程中,需要将样品进行有效固定,以避免影响分析及试验结果。其中,样品镶嵌(又称镶样)是指在样品尺寸过小或者形状不规则导致研磨抛光困难时使用镶嵌料将样品固定,使得样品抛磨方便,提高了工作效率及试验的准确性的一种制样手段。

然而,现阶段使用最多的镶嵌料是不导电的树脂,磨抛好的样品在后续测试中会出现诸多问题,尤其是在做EBSD测试时,导电性不好的镶嵌料会影响样品自身衍射花样质量。另外,EBSD测试过程中样品需要倾斜70°左右,镶嵌的样品由于重量的原因容易引起图像漂移,由于尺寸较大的原因增加了测试过程中的碰撞风险,影响了测试效率及测试准确性。相应地,本领域存在着发展一种稳定性较好的适用于磨抛样品的免镶嵌夹具的技术需求。

实用新型内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本实用新型提供了一种适用于磨抛样品的免镶嵌夹具,其基于现有磨抛样品的定位特点,研究及设计了一种稳定性较好的适用于磨抛样品的免镶嵌夹具。所述夹具通过配合体及承载机构相配合来对样品进行夹紧及定位,避免了在机械研磨和抛光过程中对样品进行镶嵌,尤其是避免了EBSD样品制备过程中对样品的镶嵌以及EBSD样品测试前去除镶嵌料的工序,简化了样品制备环节,并充分保护了样品表面。此外,所述免镶嵌夹具的结构简单,加工方便,操作简单,适用性强,可以实现不同形状、不同高度样品的稳定装夹,提高了装夹稳定性。

为实现上述目的,本实用新型提供了一种适用于磨抛样品的免镶嵌夹具,所述免镶嵌夹具包括配合体、承载机构、横向螺钉、纵向螺钉及第二螺钉,所述配合体可分离地连接于所述承载机构,其通过沿垂直方向的移动来连接于所述承载机构或者与所述承载机构相脱离;所述承载机构开设有收容槽,所述收容槽用于收容待磨抛的样品;

所述横向螺钉及所述纵向螺钉分别螺纹连接于所述承载机构,且分别与所述承载机构相配合以用于对所述样品进行水平方向的固定;所述第二螺钉螺纹连接于所述配合体,其穿过所述配合体以用于将所述样品进行垂直方向的固定,实现了所述样品的定位。

进一步地,所述承载机构开设有横向螺纹孔及纵向螺纹孔,所述横向螺纹孔及所述纵向螺纹孔均与所述收容槽相连通,且两者的中心轴垂直。

进一步地,所述横向螺钉及所述纵向螺钉分别收容于所述横向螺纹孔及所述纵向螺纹孔。

进一步地,所述收容槽包括四个壁面,四个壁面依次相连接,四个壁面中的一个壁面为弧形,其余三个为矩形;弧形的所述壁面与所述横向螺纹孔相对设置。

进一步地,所述配合体呈圆柱状,其开设有两个通孔及中心螺纹孔,两个所述通孔相对于所述中心螺纹孔对称设置,所述第二螺钉与所述中心螺纹孔之间形成螺纹连接。

进一步地,所述免镶嵌夹具包括两个第一螺钉,两个所述第一螺钉分别穿过两个所述通孔后螺纹连接于所述承载机构。

进一步地,所述承载机构呈圆柱状,其开设有两个螺纹盲孔,两个所述螺纹盲孔相对于所述承载机构的中心轴对称设置;所述第一螺钉通过所述螺纹盲孔螺纹连接于所述承载机构。

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