[实用新型]一种软X射线吸收谱的测量系统有效

专利信息
申请号: 201921384998.4 申请日: 2019-08-23
公开(公告)号: CN212031338U 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: 孙天啸;张祥志;曹杰锋;李小艳;邰仁忠;王勇;郭智;邢振江;何健;孟祥雨 申请(专利权)人: 中国科学院上海应用物理研究所
主分类号: G01N23/083 分类号: G01N23/083
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 邓琪
地址: 201800 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 射线 吸收 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种软X射线吸收谱的测量系统,其特征在于,包括位于同一光轴上的一平面光栅单色器(1)、一金网(2)和一待测样品(3),以及一与所述平面光栅单色器(1)、金网(2)和待测样品(3)均相连的EPICS系统(4),所述EPICS系统(4)包括通过以太网(41)相连的操作员电脑(42)和输入/输出控制机(43),所述输入/输出控制机(43)包括一VME总线以及通过该VME总线相连的一SIS3820计数器(43a)和一数据管理模块(43b),并通过所述数据管理模块(43b)与所述以太网(41)相连;所述金网(2)和待测样品(3)通过两个放大器(71、72)与一伏频转换器(8)相连,并通过所述伏频转换器(8)与所述输入/输出控制机(43)相连;所述放大器(71、72)为具有滤波和漂移补偿功能的Stanford SR570放大器,所述数据管理模块(43b)为CPU板卡。

2.根据权利要求1所述的软X射线吸收谱的测量系统,其特征在于,所述SIS3820计数器(43a)设置为对伏频转换器(8)输出的频率信号进行计数统计,所述数据管理模块(43b)设置为把统计数据以过程变量的形式发布到以太网上。

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