[实用新型]一种软X射线吸收谱的测量系统有效
申请号: | 201921384998.4 | 申请日: | 2019-08-23 |
公开(公告)号: | CN212031338U | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 孙天啸;张祥志;曹杰锋;李小艳;邰仁忠;王勇;郭智;邢振江;何健;孟祥雨 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海应用物理研究所 |
主分类号: | G01N23/083 | 分类号: | G01N23/083 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 邓琪 |
地址: | 201800 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 射线 吸收 测量 系统 | ||
1.一种软X射线吸收谱的测量系统,其特征在于,包括位于同一光轴上的一平面光栅单色器(1)、一金网(2)和一待测样品(3),以及一与所述平面光栅单色器(1)、金网(2)和待测样品(3)均相连的EPICS系统(4),所述EPICS系统(4)包括通过以太网(41)相连的操作员电脑(42)和输入/输出控制机(43),所述输入/输出控制机(43)包括一VME总线以及通过该VME总线相连的一SIS3820计数器(43a)和一数据管理模块(43b),并通过所述数据管理模块(43b)与所述以太网(41)相连;所述金网(2)和待测样品(3)通过两个放大器(71、72)与一伏频转换器(8)相连,并通过所述伏频转换器(8)与所述输入/输出控制机(43)相连;所述放大器(71、72)为具有滤波和漂移补偿功能的Stanford SR570放大器,所述数据管理模块(43b)为CPU板卡。
2.根据权利要求1所述的软X射线吸收谱的测量系统,其特征在于,所述SIS3820计数器(43a)设置为对伏频转换器(8)输出的频率信号进行计数统计,所述数据管理模块(43b)设置为把统计数据以过程变量的形式发布到以太网上。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海应用物理研究所,未经中国科学院上海应用物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201921384998.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。