[实用新型]一种具有低点缺陷密度的二类超晶格光探测器

说明书

本实用新型公开了一种具有低点缺陷密度的二类超晶格光探测器，属于光探测器技术领域，包括外壳、电子组件和探测窗，所述电子组件安装在外壳内部，所述探测窗镶嵌在外壳表面，所述外壳分别包括下壳体和上壳体，所述下壳体和上壳体一端通过铰链连接，所述上壳体顶端螺旋插接有锁紧轮，所述上壳体表面对称开设有定位孔，所述下壳体右端表面中间位置开设有螺纹孔，且下壳体右端表面对称安装有定位柱，所述下壳体上方一体成型有凸台，所述凸台外壁靠近底端粘接有密封圈。本实用新型把上壳体和下壳体的一端通过铰链连接，组装的时候，仅通过一个锁紧轮插接在螺纹孔内部即可锁紧固定，操作省时省力。

技术领域

本实用新型涉及光探测器技术领域，尤其涉及一种具有低点缺陷密度的二类超晶格光探测器。

背景技术

光电探测器的原理是由辐射引起被照射材料电导率发生改变。光电探测器在军事和国民经济的各个领域有广泛用途。在可见光或近红外波段主要用于射线测量和探测、工业自动控制、光度计量等；在红外波段主要用于导弹制导、红外热成像、红外遥感等方面。光电导体的另一应用是用它做摄像管靶面。为了避免光生载流子扩散引起图像模糊，连续薄膜靶面都用高阻多晶材料，如PbS-PbO、Sb2S3等。其他材料可采取镶嵌靶面的方法，整个靶面由约10万个单独探测器组成。

具有低点缺陷密度的二类超晶格光探测器的外壳包括上下两个壳体，上下两个壳体多是通过四组螺栓锁紧固定，组装和拆卸费时费力。为此，我们提出一种具有低点缺陷密度的二类超晶格光探测器。

实用新型内容

本实用新型提供一种具有低点缺陷密度的二类超晶格光探测器，旨在把上壳体和下壳体的一端通过铰链连接，组装的时候，仅通过一个锁紧轮插接在螺纹孔内部即可锁紧固定，操作省时省力。

本实用新型提供的具体技术方案如下：

本实用新型提供的一种具有低点缺陷密度的二类超晶格光探测器包括外壳、电子组件和探测窗，所述电子组件安装在外壳内部，所述探测窗镶嵌在外壳表面，所述外壳分别包括下壳体和上壳体，所述下壳体和上壳体一端通过铰链连接，所述上壳体顶端螺旋插接有锁紧轮，所述上壳体表面对称开设有定位孔，所述下壳体右端表面中间位置开设有螺纹孔，且下壳体右端表面对称安装有定位柱，所述下壳体上方一体成型有凸台，所述凸台外壁靠近底端粘接有密封圈。

可选的，所述定位孔和定位柱相对应，所述螺纹孔与锁紧轮螺纹配合。

可选的，所述外壳边角处均粘接有凸点胶垫。

可选的，所述下壳体内部底端对称安装有陶瓷支腿，所述陶瓷支腿上方通过螺栓可拆卸连接有安装板，所述电子组件安装在安装板上方。

本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型把上壳体和下壳体的一端通过铰链连接，组装的时候，仅通过一个锁紧轮插接在螺纹孔内部即可锁紧固定，操作省时省力。

2、本实用新型下壳体上方一体成型有凸台，凸台外壁靠近底端粘接有密封圈，有效的提高上壳体与下壳体闭合处的密封性，防尘防水性能好，延长使用寿命。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例的一种具有低点缺陷密度的二类超晶格光探测器的整体结构示意图；

图2为本实用新型实施例的一种具有低点缺陷密度的二类超晶格光探测器的下壳体俯视结构示意图。