[实用新型]一种提高测量微弱信号分辨率的电路系统

权利要求书

1.一种提高测量微弱信号分辨率的电路系统，其特征在于，包括模数转换器U1、主控制器MCU、运放U2、电阻R1和电阻R2，所述模数转换器U1采用AD620；电阻R1一端为自由端，另一端分别连接电容C1的一端和模数转换器U1的2脚；电阻R2的一端为自由端，另一端分别连接电容C2的一端和模数转换器U1的3脚；电容C1另一端、电容C2另一端和模数转换器U1的4脚接地；模数转换器U1的1脚通过电阻Rg连接到模数转换器U1的8脚；模数转换器U1的6脚连接电阻R6的一端，电阻R6另一端分别连接接地电容C5的一端和主控制器MCU的ADC引脚，电容C5的另一端接地；主控制器MCU使用两路数模转换器，模数转换器U1的5脚连接主控制器MCU的DAC2引脚，主控制器MCU的DAC1引脚连接运放U2的同相端，运放U2的反相端连接运放U2的输出端。

2.根据权利要求1所述的提高测量微弱信号分辨率的电路系统，其特征在于，所述主控制器MCU采用微处理器。

3.根据权利要求2所述的提高测量微弱信号分辨率的电路系统，其特征在于，所述主控制器MCU的ADC采样频率fs＝1KHz，采用过采样采样方式，过采样率M＝256，过采样频率为fs*M＝1KHz*256＝256KHz。

4.根据权利要求3所述的提高测量微弱信号分辨率的电路系统，其特征在于，所述线性变化的锯齿波函数信号的频率f0＝fs/K，K＝1。