[实用新型]一种光电检测电子元器件测试设备

权利要求书

1.一种光电检测电子元器件测试设备，其特征在于：包括支座(1)、测试座(2)、测试架(3)、导向座(4)和对射光电传感器(5)，所述支座(1)上设置有所述测试座(2)，所述测试座(2)上设置有所述导向座(4)和对射光电传感器(5)，所述测试座(2)和导向座(4)内部孔中设置有所述测试架(3)，所述测试架(3)包括顶针一(39)、顶针二(40)、顶针三(401)和顶针四(402)，所述顶针一(39)、顶针二(40)、顶针三(401)和顶针四(402)设置在所述测试座(2)内部孔中，所述测试座(2)包括测试固定座(21)、调节螺杆(22)、可调孔一(23)、可调孔二(24)、可调孔三(25)、可调孔四(26)和支撑座(27)，所述测试固定座(21)上设置有所述可调孔一(23)、可调孔二(24)、可调孔三(25)、可调孔四(26)和支撑座(27)，所述测试固定座(21)固定在所述支座(1)的顶部，所述测试固定座(21)上设置有所述调节螺杆(22)，所述调节螺杆(22)调节所述测试固定座(21)在所述支座(1)顶部的位置。

2.如权利要求1所述的一种光电检测电子元器件测试设备，其特征在于：所述导向座(4)上设置有导向孔(41)和红外线槽(42)，所述支撑座(27)设置在导向孔(41)中间。

3.如权利要求1所述的一种光电检测电子元器件测试设备，其特征在于：所述对射光电传感器(5)设置有两个，所述对射光电传感器(5)的红外感应线穿过红外线槽(42)。

4.如权利要求1所述的一种光电检测电子元器件测试设备，其特征在于：所述测试架(3)包括可调螺杆一(31)、可调螺杆二(32)、可调螺杆三(33)、可调螺杆四(34)、顶针座一(35)、顶针座二(36)、顶针座三(37)、顶针座四(38)、顶针一(39)、顶针二(40)、顶针三(401)和顶针四(402)，所述顶针座一(35)上设置有所述顶针一(39)，所述顶针座二(36)上设置有所述顶针二(40)，所述顶针座三(37)上设置有所述顶针三(401)，所述顶针座四(38)上设置有所述顶针四(402)，所述可调螺杆一(31)上设置有所述顶针座一(35)和顶针座三(37)，所述可调螺杆二(32)上设置有所述顶针座二(36)和顶针座四(38)，所述可调螺杆三(33)上设置有所述顶针座一(35)和顶针座二(36)，所述可调螺杆四(34)上设置有所述顶针座三(37)和顶针座四(38)，所述可调螺杆一(31)设置在所述可调孔一(23)内，所述可调螺杆二(32)设置在所述可调孔二(24)内，所述可调螺杆三(33)设置在所述可调孔三(25)内，所述可调螺杆四(34)设置在所述可调孔四(26)内。