[实用新型]测试用电路板有效
| 申请号： | 201921408547.X | 申请日： | 2019-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN211043572U | 公开（公告）日： | 2020-07-17 |
| 发明（设计）人： | 李智;韩雪川;崔荣 | 申请（专利权）人： | 深南电路股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R27/02 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 李庆波 |
| 地址： | 518000 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试 用电 | ||
1.一种测试用电路板，其特征在于，所述测试用电路板包括内部信号层，所述内部信号层设有阻抗测试线，同时所述测试用电路板设有裸露出所述阻抗测试线至少部分的测试孔，以供阻抗测试设备的测试探针伸入所述测试孔而与裸露的所述阻抗测试线电连接，进而进行阻抗测试。
2.根据权利要求1所述的测试用电路板，其特征在于，
所述测试孔为贯穿所述测试用电路板的通孔，所述阻抗测试线的至少部分自所述测试孔的侧壁裸露。
3.根据权利要求2所述的测试用电路板，其特征在于，
所述测试孔包括以所述阻抗测试线为界的第一子测试孔以及第二子测试孔，所述阻抗测试线凸出所述第一子测试孔的侧壁以及所述第二子测试孔的侧壁。
4.根据权利要求3所述的测试用电路板，其特征在于，
所述第一子测试孔的直径沿靠近所述第二子测试孔的方向减小。
5.根据权利要求2所述的测试用电路板，其特征在于，
所述测试孔为圆台形通孔。
6.根据权利要求1所述的测试用电路板，其特征在于，
所述测试孔为延伸至所述内部信号层的盲孔，所述阻抗测试线的至少部分自所述测试孔的底部裸露。
7.根据权利要求6所述的测试用电路板，其特征在于，
所述测试孔包括连通且同轴设置的第一子测试孔以及第二子测试孔，所述第一子测试孔与所述电路板的表层连通，所述第二子测试孔自所述阻抗测试线表层深入所述阻抗测试线，其中，所述第二子测试孔为圆锥形埋孔。
8.根据权利要求7所述的测试用电路板，其特征在于，
所述第一子测试孔的直径沿靠近所述第二子测试孔的方向减小。
9.根据权利要求1所述的测试用电路板，其特征在于，
所述阻抗测试线包括连接的阻抗测试盘以及阻抗测试条，所述阻抗测试盘的直径大于所述阻抗测试条的宽度，其中，所述测试孔裸露出所述阻抗测试盘的至少部分。
10.根据权利要求1所述的测试用电路板，其特征在于，
所述阻抗测试线为单端阻抗测试线或差分阻抗测试线。
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