[实用新型]一种功率因数芯片测试电路

说明书

本实用新型公开了一种功率因数芯片测试电路，包括两个驱动电路，功率因数芯片的驱动输出端CDA连接第一驱动电路的输入端，第一驱动电路的输出端连接功率因数芯片的ZCDA端，功率因数芯片的驱动输出端CDB连接第二驱动电路的输入端，第二驱动电路的输出端连接功率因数芯片的ZCDB端。本申请采用芯片自身的输出信号作为输入信号，满足对输入信号的相位要求，简化了外围电路；采用弱电信号对功率因数芯片进行测试，克服了强电测试时带来的危险与损坏，增加了安全性，提高了效益。

技术领域

本实用新型涉及电子镇流器技术领域，尤其是涉及一种功率因数芯片测试电路。

背景技术

目前，电子镇流器的功率因数是一个非常重要的参数，如何提高功率因数是相关领域技术人员致力研究的课题，对于功率因数芯片的测试，由于信号引入复杂，大多直接使用强电进行测试，而强电测试容易引起触电危险，并且如果元件或者焊接有问题，会造成元器件失效严重，即成本损失。

因此，如何实现对功率因数的测试是目前亟待解决的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种功率因数芯片测试电路，采用弱电信号测试功率因数芯片，将功率因数芯片的输出引入到输入端，得到满足要求输入信号，实现对功率因数芯片的测试，简化了电路，降低了风险。

本实用新型的上述实用新型目的通过以下技术方案得以实现：

一种功率因数芯片测试电路，包括两个驱动电路，功率因数芯片的驱动输出端CDA连接第一驱动电路的输入端，第一驱动电路的输出端连接功率因数芯片的ZCDA端，功率因数芯片的驱动输出端CDB连接第二驱动电路的输入端，第二驱动电路的输出端连接功率因数芯片的ZCDB端。

本实用新型进一步设置为：两个所述驱动电路结构相同。

本实用新型进一步设置为：第一驱动电路包括NPN三极管，其基极连接通过第一电阻连接功率因数芯片的驱动输出端CDA，其发射极连接第一二极管的负极、第三电阻的一端、第一稳压管的正端、第四电阻的一端，其集电极接地；第一二极管的正极通过第二电阻连接功率因数芯片的驱动输出端CDA，第三电阻的另一端、第一稳压管的负端接地；第四电阻的一端的另一端连接功率因数芯片的引脚ZCDA。

本实用新型进一步设置为：功率因数芯片的引脚VSENSE连接第一分压电路的输出端，第一分压电路的输入端连接PFC电源端。

本实用新型进一步设置为：功率因数芯片的引脚VINAC连接第二分压电路的输出端，第二分压电路的输入端连接PFC电源端。

本实用新型进一步设置为：功率因数芯片的引脚HVSEN连接第三分压电路的输出端、第一开关电路的输出端，第三分压电路的输入端连接PFC电源端。

本实用新型进一步设置为：第一开关电路包括NPN三极管，其基极连接第四分压电路的输出端，其集电极连接第二二极管的正极、第五电阻的一端，其发射极接地；第二二极管的负极连接引脚HVSEN，第五电阻的另一端接电源VCC；第四分压电路的输入端连接外围电路的控制信号输出端。

本实用新型进一步设置为：分压电路采用电阻分压。

本实用新型进一步设置为：功率因数芯片的引脚CS连接积分电路的输出端，积分电路的输入端连接方波信号输出端，积分电路用于将方波信号转换为锯齿波信号。

本实用新型进一步设置为：功率因数芯片的引脚TSET通过第六电阻接地，引脚COMP通过第七电阻、第一电容的串联后接地、通过第二电容接地。

与现有技术相比，本实用新型的有益技术效果为：

1.本申请采用芯片自身的输出信号作为输入信号，满足对输入信号的相位要求，简化了外围电路；