[实用新型]一种具有水平调整机构的集成电路测试设备

权利要求书

1.一种具有水平调整机构的集成电路测试设备，包括平台(1)，其特征在于：所述平台(1)的顶部设有测试仪本体(2)，所述测试仪本体(2)的底部一侧设有支撑机构，所述测试仪本体(2)的底部另一侧设有调节机构；

所述调节机构包括齿板(8)，所述齿板(8)的顶部设有连接机构，所述平台(1)的顶端开设有与齿板(8)位置相对的凹槽(9)，所述齿板(8)与凹槽(9)滑动连接，所述齿板(8)的一侧设有驱动机构，所述齿板(8)的正面和背面均设有截止机构；

所述截止机构包括截止块(14)，所述截止块(14)的一侧固定连接有导杆(15)，所述凹槽(9)的顶部两侧均开设有与截止块(14)位置相对的开槽(13)，所述开槽(13)的槽壁开设有限位槽(16)，所述导杆(15)与限位槽(16)的一端活动穿插卡接，所述导杆(15)的一端固定连接有弹簧(17)，所述弹簧(17)的一端与限位槽(16)的槽壁固定连接，所述截止块(14)的底端与开槽(13)的底端活动连接，所述截止块(14)的另一侧设有多个凸齿(12)，多个所述凸齿(12)固定连接于齿板(8)上，且相邻两个所述凸齿(12)与截止块(14)卡接，所述截止块(14)的顶端固定连接有拨板(20)。

2.根据权利要求1所述的一种具有水平调整机构的集成电路测试设备，其特征在于：所述支撑机构包括滑轨(3)，所述滑轨(3)安装于测试仪本体(2)的底端，所述滑轨(3)的内部滑动卡接有滑棍(4)，所述滑棍(4)的底端固定连接有第一套板(5)，所述第一套板(5)的底端通过第一螺栓卡接有固定板(6)，所述固定板(6)的底端与平台(1)的顶端固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种具有水平调整机构的集成电路测试设备，其特征在于：所述连接机构包括第二套板(7)，所述第二套板(7)的底部通过第二螺栓与齿板(8)的顶部卡接，所述第二套板(7)的顶端通过转轴与测试仪本体(2)的底端另一侧活动连接。

4.根据权利要求1所述的一种具有水平调整机构的集成电路测试设备，其特征在于：所述驱动机构包括齿轮(10)，所述齿轮(10)安装于凹槽(9)的槽壁内，所述齿轮(10)的中心位置处固定连接有摇柄(11)，所述齿轮(10)与齿板(8)的一侧啮合连接。

5.根据权利要求1所述的一种具有水平调整机构的集成电路测试设备，其特征在于：所述导杆(15)的外部套设有垫板(18)，所述垫板(18)的一侧与开槽(13)的槽壁固定连接。

6.根据权利要求1所述的一种具有水平调整机构的集成电路测试设备，其特征在于：所述平台(1)的底端固定安装有呈矩形分布的四个移动轮(19)。