[实用新型]测试装置

说明书

本申请公开了一种测试装置，包括活动板、底座、控制杆、承载座。底座包括嵌合座设置于对称的两组容置槽之间，每一个容置槽设置有穿孔，两组容置槽中的穿孔的位置对应两个凹槽，每一容置槽分别装设有承载组件，承载组件穿过穿孔抵触至活动板的对称的两个凹槽中，且承载组件上设置有导电组件。底座安装于所述活动板上。承载座安装于底座，承载座包括至少一个开口。控制杆连接活动板，用以控制活动板移动以连动容置于两组对称两个容置槽中的承载组件进行分离或闭合。

技术领域

本申请涉及测试被动组件的电性能参数值的技术领域，尤其涉及一种测试装置。

背景技术

随着无线充电电子产品的迅速发展，无线充电线圈的应用越来越广泛，对于精确测试无线充电线圈的电性能参数要求也越来越高，测试方法就变得尤为重要，普通的二线法测试会因测试线本身电阻的影响，导致测试精度偏低。

故采用四线法(也叫开尔文法)测量因应而生，四线法测量电阻能够避免接触电阻和导线电阻的影响，所以灵敏度高，测量准确，使用方便且对电源稳定性要求不高，目前已广泛应用于线圈(Coil)的电性能测试中。以现有的四线测试法在线圈性能的测试应用中会用探针探到线圈的引线沾锡导体部分，来测试线圈的交流/直流电阻、电感和品质因数。现有的四线测试法来测试线圈电性能参数方式一般有两种，第一种方法是，四个探针都探到线圈沾锡导体的一个面，第二种方法是，两根探针探到沾锡导体的一个面，两根探到沾锡导体的另一面。线圈的两个导体上各扎两个探针，通过四线测试法测试被测线圈的电性能参数，对于测试所用探针线径(OD)大于被测线圈的导体长度时，第一种方法将不再实用，第二种方法可测试，但是上下探针的结构会占用更大的空间，且使测试机台机构更加复杂，对于焊接有连接器的产品已经无法直接用四线测试法测试。

实用新型内容

本申请实施例提供一种测试装置，以解决使用四线测试法测量被动组件时，因探针外径大于被测的被动组件的导体长度，导致无法准确测量被动组件的电性能参数的问题。

为了解决上述技术问题，本申请是这样实现的：

提供了一种测试装置，包括活动板、底座、承载座、控制杆。活动板包括对称的两个凹槽；底座安装于所述活动板上，底座包括两组对称的两个容置槽及嵌合座，嵌合座设置于两组容置槽之间，每一个容置槽设置有穿孔，每一个容置槽分别装设有承载组件，每一个承载组件的底部穿过穿孔抵触至凹槽中，且每一个承载组件上分别设置有导电组件。承载座安装于底座，承载座包括至少一个开孔；控制杆连接活动板，控制杆用以控制活动板移动以连动容置于两组对称两个容置槽中的承载组件进行分离或闭合。

在本申请实施例中，承载座提供被动组件装设于上时，导电组件会同时抵靠接触至位于嵌合座中的金属组件，使得被动组件的引线导体、导电组件、金属组件彼此之间形成电性连接，而可以转化测试点位，通过导电组件转化测试点位，在不改变测试探针外径(OD)与被动组件(例如线圈)导体长度的条件之下，只增加简单机构转化测试点位，将原本在被动组件的引线导体的测试点位转化到测试面积更大的导电组件上，从而不改变测试探针外径与导体长度，节约机构设计空间，使被动组件测试变得简单准确。利用控制杆控制活动板移动以连动容置于两组对称两个容置槽中的承载组件进行分离或闭合，当承载组件分离时，即可将被动组件的引线装设于两个连通通道上，使两个引线一端的导体定位到测试装置中，当承载组件闭合时，使嵌合于嵌合槽中的两个金属组件接触引线的导体形成电性连接，同时透过两个金属组件将引线的导体与导电组件形成电性连接，测试探针直接探在裸露在开孔中的导电组件上，可实现间接的四线测试法。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1是本申请的的立体图；

图2是图1的立体分解图；

图3是本申请的转化测试点位闭合状态的作动示意图；