[实用新型]一种极片电阻的阻值测量端子及测量仪

说明书

本实用新型提供了一种极片电阻的阻值测量端子及测量仪，包括：第一端子及第二端子，其中，所述第一端子由第一接触圆柱和第一底座构成，所述第二端子由第二接触圆柱和第二底座构成；所述第一接触圆柱与所述第二接触圆柱相对朝向设置；所述第一端子的底座设置有用于连接电源电极第一电源接口，所述第二端子的底座上设置有用于连接电源电极的第二电源接口。基于本实用新型，其测试极片电阻阻值时，电流从极片电阻的端面穿过，使得对极片电阻阻值测量更加精确。

技术领域

本实用新型涉及极片电阻测量领域，特别涉及一种极片电阻的阻值测量端子测量仪。

背景技术

通过对极片施加不同压强，可以使极片表面的涂层颗粒产生不同程度的形变，从而改变极片的导电性能。通过测量数据可以分析不同压强下极片的阻值特性，从而对改良极片提供数据参考。而四探针法(如图1所示)和两探针法(如图2所示)都无法对被测物体表面施加压力，且极片的表面涂层由颗粒组成，与探针的接触面积小，只测量了电阻两端的电压值和电流值,故探针法无法全面表征极片电阻。无论是四探针法还是两探针法都只能表征表面薄层的电阻(即只能用于测量被测物表面的薄层电阻)，对于较厚且存在成分梯度的电池涂层无法全面表征极片的电阻值，另外，它也不能测试真实极片中涂层与基材之间的接触电阻。四探针测试法仅测量非导电基材极片，且与测试极片接触点面积小，极片颗粒大，数据无参考意义。

实用新型内容

本实用新型公开了一种极片电阻的阻值测量端子及测量仪，其测试极片电阻阻值时，电流从极片电阻的端面穿过，使得对极片电阻阻值测量更加精确。

本实用新型第一实施例提供了一种极片电阻的阻值测量端子，包括：第一端子及第二端子，其中，所述第一端子由第一接触圆柱和第一底座构成，所述第二端子由第二接触圆柱和第二底座构成；所述第一接触圆柱与所述第二接触圆柱相对朝向设置；所述第一端子的底座设置有用于连接电源电极第一电源接口，所述第二端子的底座上设置有用于连接电源电极的第二电源接口。

优选地，所述第一接触圆柱与所述第二接触圆柱的直径相同。

优选地，所述第一接触圆柱及所述第二接触圆柱的直径范围为13mm-16mm。

优选地，所述第一端子及所述第二端子的材质为黄铜。

优选地，所述第一底座设置有至少一个第一螺栓孔，所述第二底座上设置有至少一个第二螺栓孔，所述第一螺栓孔贯穿所述第一底座的端面，所述第二螺栓孔贯穿所述第二底座的端面。

本实用新型第二实施例提供了一种极片电阻的阻值测量仪，包括电流源、测压装置以及如上任意一项所述的极片电阻的阻值测量端子，所述电流源的正极与所述第一电源接口电连接，所述电流源的负极与所述第二电源接口电连接，所述测压装置的第一端与所述第一电源接口电连接，所述测压装置的第二端与所述第二电源接口电连接。

优选地，所述测压装置为电压表。

基于本实用新型公开了一种极片电阻的阻值测量端子及测量仪，通过设置两个圆柱型的接触端面，使得极片电阻的两个端面分别贴合在两个圆柱端面，并在端子的底座设置有电源接口，用于连接外部电路，使得在检测极片电阻时，两个接触圆柱端面及极片电阻的两个端面构成回路，使得电流从极片电阻的端面穿过，使得对极片电阻阻值测量更加精确。

附图说明

图1是现有技术四探针法极片电阻的阻值测量示意图；

图2是现有技术二探针法极片电阻的阻值测量示意图；

图3是本实用新型提供的一种极片电阻的阻值测量端子结构示意图。

具体实施方式