[实用新型]单反射面紧缩场装置有效

专利信息
申请号: 201921459181.9 申请日: 2019-09-04
公开(公告)号: CN211528544U 公开(公告)日: 2020-09-18
发明(设计)人: 李志平;覃媛媛;王正鹏;武建华 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;H01Q19/12;H01Q15/16
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 付生辉
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 反射 紧缩 装置
【说明书】:

实用新型公开一种单反射面紧缩场装置。该装置的一实施方式包括:馈源和单反射面系统,所述馈源对所述单反射面系统的反射面偏馈照射,所述单反射面系统的焦距的取值为2~3倍口径。该实施方式采用焦径比较大的长焦设计,可通过长焦减缩偏馈量来控制交叉极化到合理范围,以提升交叉极化隔离度,可使交叉极化隔离度大于‑30dB,趋近于‑38dB~‑40dB之间,提高了正交极化隔离天线的测量精度,制造及装配精度容易实现,不存在多反射面装配的累积误差,相对容易实现更高频率工作要求的反射面精度,提高了紧缩场系统设计的工程可实现性,适用于毫米波/THz测试场,克服了双/多反射面系统难以实现低交叉极化的问题。

技术领域

本实用新型涉及紧缩场技术领域。更具体地,涉及一种单反射面紧缩场装置。

背景技术

随着THz(Tera Hertz,太赫兹,简称THz)技术的发展,精密测量THz大口径天线的需求日益迫切,尤其是对交叉极化隔离有较高要求的卫星通讯天线和全极化遥感天线。传统的高交叉极化隔离的紧缩场,通常采用双或多反射面系统的等效长焦或大焦径比设计,或如前馈卡赛格伦紧缩场的补偿设计,来降低偏馈结构和馈源自身引入的交叉极化。双或多反射面系统的长焦设计,有利于降低主反射面曲率和抑制准直反射场的交叉极化,但THz波段紧缩场若采用多反射面系统级联组合,将存在各级反射面误差累积,同等精度要求下将增加各反射面精度保证的工程实现复杂性。

因此,需要提供一种新型的紧缩场装置。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种单反射面紧缩场装置,以解决现有技术存在的问题中的至少一个。

为达到上述目的,本实用新型采用下述技术方案:

本实用新型提供一种单反射面紧缩场装置,包括:馈源和单反射面系统,所述馈源对所述单反射面系统的反射面偏馈照射,所述单反射面系统的焦距的取值为2~3倍口径。

可选的,所述单反射面系统的反射面边缘具有卷曲结构或锯齿结构。

可选的,所述单反射面系统置于微波暗室或微波暗箱中。

可选的,所述微波暗室和所述微波暗箱中布设有吸波材料。

可选的,所述单反射面系统的反射面为旋转抛物面。

可选的,所述单反射面系统的反射面的边缘长度大于工作波长的3倍。

可选的,所述单反射面系统的反射面的边缘长度大于工作波长的5倍。

可选的,所述单反射面系统的焦距的取值为2.5倍口径。

本实用新型的有益效果如下:

本实用新型的实施方式采用焦径比较大的长焦设计,可通过长焦减缩偏馈量来控制交叉极化到合理范围,以提升交叉极化隔离度,可使交叉极化隔离度大于-30dB,趋近于-38dB~-40dB之间,提高了正交极化隔离天线的测量精度,制造及装配精度容易实现,不存在多反射面装配的累积误差,相对容易实现更高频率工作要求的反射面精度,提高了紧缩场系统设计的工程可实现性,适用于毫米波/THz测试场,克服了双/多反射面系统难以实现低交叉极化的问题。

附图说明

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步详细的说明;

图1示出本实用新型实施例提供的单反射面紧缩场装置的布局示意图;

图2示出本实用新型一个具体实施例的单反射面紧缩场装置的静区中心水平线的幅度(dB值,幅度归一化后各频点依次减1dB);

图3示出本实用新型一个具体实施例的单反射面紧缩场装置的静区中心水平线的相位(度);

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