[实用新型]一种金属表面多点温度测量装置有效
申请号: | 201921469814.4 | 申请日: | 2019-09-05 |
公开(公告)号: | CN210243025U | 公开(公告)日: | 2020-04-03 |
发明(设计)人: | 陈翠梅 | 申请(专利权)人: | 易思维(杭州)科技有限公司 |
主分类号: | G01K7/20 | 分类号: | G01K7/20 |
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地址: | 310051 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 金属表面 多点 温度 测量 装置 | ||
1.一种金属表面多点温度测量装置,包括相互通讯的温度采集端和微控制器;温度采集端设置多路,分别采集待测金属表面不同位置的温度;其特征在于:
所述温度采集端包括贴片式铂热电阻、RTD至数字输出转换器和基准电压源;所述基准电压源与所述RTD至数字输出转换器连接,为其供电;所述贴片式铂热电阻与金属表面相接触并采用全差分模拟输入连接到所述RTD至数字输出转换器;所述RTD至数字输出转换器还通过全差分基准输入方式连接有参考电阻;
所述RTD至数字输出转换器计算贴片式铂热电阻与参考电阻的阻值比值,并将其转换成ADC编码,然后将ADC编码传输到微控制器;所述微控制器依据接收到的ADC编码计算出待测金属表面的温度。
2.如权利要求1所述金属表面多点温度测量装置,其特征在于:所述多路温度采集端并联在同一组线路后连接在所述微控制器上。
3.如权利要求1所述金属表面多点温度测量装置,其特征在于,所述贴片式铂热电阻为三线制或四线制。
4.如权利要求1所述金属表面多点温度测量装置,其特征在于,所述温度采集端和微控制器的数据传输采用SPI总线,所述SPI总线包括时钟信号SCLK和数据信号SDI、SDO。
5.如权利要求4所述金属表面多点温度测量装置,其特征在于,在所述时钟信号SCLK和数据信号SDI、SDO上的源端串接电阻。
6.如权利要求1所述金属表面多点温度测量装置,其特征在于,RTD至数字输出转换器的VDD管脚与基准电压源之间连接磁珠以及滤波电容。
7.如权利要求1所述金属表面多点温度测量装置,其特征在于,所述基准电压源为REF3033。
8.如权利要求1所述金属表面多点温度测量装置,其特征在于,所述贴片式铂热电阻采用PT100。
9.如权利要求1所述金属表面多点温度测量装置,其特征在于,所述RTD至数字输出转换器为芯片MAX31865。
10.如权利要求1所述金属表面多点温度测量装置,其特征在于,所述微控制器为单片机,所述单片机同步采集多路温度采集端的信号,通过片选管脚识别各路温度采集端。
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