[实用新型]用于检测光的装置有效
申请号: | 201921472310.8 | 申请日: | 2019-09-05 |
公开(公告)号: | CN211061698U | 公开(公告)日: | 2020-07-21 |
发明(设计)人: | D·哈尔;B·雷 | 申请(专利权)人: | 意法半导体(RD)有限公司 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08;G01S7/4863;G01J1/44 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 英国白*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 装置 | ||
本公开的各实施例涉及用于检测光的装置。一种装置,包括至少一个检测器,该至少一个检测器被配置为从检测器视场内的对象接收返回光,光由光源生成。检测器包括第一光敏区域和第二光敏区域,第一光敏区域和第二光敏区域被配置为接收来自光源的返回光。包括至少一个非光敏区域,并且第一光敏区域和第二光敏区域被至少一个非光敏区域分离。至少一个非光敏区域与第一光敏区域或第二光敏区域中的一个光敏区域相关联。
技术领域
一些实施例涉及一种检测光的装置。
背景技术
光敏设备在一系列应用中被采用,例如用于确定光水平、通信、范围检测等。为了提高空间效率,光敏像素和控制逻辑或其他逻辑被集成到单个封装上。
例如,单光子雪崩二极管(SPAD)可以用作反射光的检测器。通常,提供包括SPAD感应元件的像素阵列作为传感器,以便检测反射光脉冲。光子可以通过光电效应在SPAD中生成载流子。光生载流子可以在SPAD阵列中的一个或多个SPAD中触发雪崩电流。雪崩电流可以对事件(即已经检测到光的光子)发出信号。
使用SPAD阵列进行测距是众所周知的。例如,SPAD阵列和SPAD传感器已经被用于为移动设备中测距应用确定飞行时间距离。
SPAD检测器可以包括光敏材料的区域和非光敏区域的区域,非光敏区域的区域诸如用于猝灭电路装置、脉冲调节逻辑、聚合逻辑、数字计数器和其他逻辑。
结构光源(换句话说,生成确定的光图案的光源)是已知的并且已经用于例如许多产品中。它们相对于常规的“闪光”光源的优势在于:通过使用定义的光斑图案,可以在足以在总体显著较低的功率水平提供高质量输出的水平下照亮环境。另外,照明水平可以更容易地保持在最大允许曝光(MPE)水平,并且因此可以被清除以供一般使用。
例如在使用结构光的情况下,诸如SPAD检测器阵列的常规的光敏检测器可能不会产生良好的效率。
实用新型内容
根据本公开的第一方面,提供了一种用于检测光的装置,包括:至少一个检测器,被配置为从检测器视场内的对象接收返回光,光由光源生成,所述检测器包括:第一光敏区域和第二光敏区域,被配置为接收来自所述光源的所述返回光,所述第一光敏区域和所述第二光敏区域中的每个光敏区域包括相应的多个光电二极管;以及至少一个非光敏区域,其中所述第一光敏区域和所述第二光敏区域被所述至少一个非光敏区域分离,并且所述至少一个非光敏区域与所述第一光敏区域或所述第二光敏区域中的一个光敏区域相关联。
在一些实施例中,所述第一光敏区域和所述第二光敏区域包括第一光电二极管和第二光电二极管,并且所述至少一个非光敏区域包括与所述第一光电二极管或所述第二光电二极管中的一个光电二极管相关联的电路装置。
在一些实施例中,所述第一光敏区域和所述第二光敏区域包括第一宏像素和第二宏像素,所述第一宏像素和所述第二宏像素各自包括以定义的配置布置的两个或多个光电二极管,并且所述至少一个非光敏区域包括与所述第一宏像素或所述第二宏像素中的一个宏像素相关联的电路装置。
在一些实施例中,所述第一光敏区域和所述第二光敏区域包括第一宏像素阵列和第二宏像素阵列,所述第一宏像素阵列和所述第二宏像素阵列中的宏像素各自包括以定义的配置布置的两个或多个光电二极管,所述至少一个非光敏区域包括与所述第一宏像素阵列或所述第二宏像素阵列中的一个宏像素阵列相关联的电路装置。
在一些实施例中,所述光源是结构光源,所述结构光源被配置为生成具有至少两个分离的光图案元素的结构光图案。
在一些实施例中,所述第一光敏区域和所述第二光敏区域是第一宏像素和第二宏像素,所述第一宏像素和所述第二宏像素各自包括以定义的配置布置的两个或多个光电二极管,并且其中在每个宏像素内,所述两个或多个光电二极管被可选择地启用或禁用。
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