[实用新型]一种真圆度检测用治具有效
申请号: | 201921488778.6 | 申请日: | 2019-09-09 |
公开(公告)号: | CN210533258U | 公开(公告)日: | 2020-05-15 |
发明(设计)人: | 穆帅帅;张代龙 | 申请(专利权)人: | 富乐德科技发展(天津)有限公司 |
主分类号: | G01B5/20 | 分类号: | G01B5/20;G01B5/30 |
代理公司: | 天津市新天方专利代理有限责任公司 12104 | 代理人: | 孔珍 |
地址: | 301712 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 真圆 检测 用治具 | ||
本实用新型是一种真圆度检测用治具,包括检测工作台,其特征在于,所述检测工作台呈正方形板结构,所述检测工作台的中心设有圆形开口结构,所述圆形开口结构内同轴设有环形检测台,所述环形检测台的外壁与所述圆形开口结构的内壁固接,所述环形检测台低于所述检测工作台的上表面。本实用新型结构设计合理,操作简便,通过设置环形检测台,检测工作台,部件清洗喷砂完毕后,将部件上部扣在环形检测台上,配合检测工作台,检测部件的真圆度,与常规的游标卡尺检测相比,避免了对同一部件进行多次随机多点检测,检测方便有效,提高了检测效率的同时降低了检测误差,进而满足了检测部件的使用需求。
技术领域
本实用新型涉及真圆度检测工具技术领域,尤其涉及一种真圆度检测用治具。
背景技术
半导体设备中有一种氮化钽的物理沉积机台,机台中的部件下部防护罩(LOWERSHILED)因厚度较薄,且上部有一个开口,在清洗喷砂过程中存在变形的情况,因此,需要对清洗喷砂后的部件LOWER SHILED上部进行真圆度检测。但是,常规的检测采用游标卡尺对同一部件进行多次随机多点检测,检测费时费力,检测效率低,同时存在较大的检测误差,无法满足检测部件的使用需求。
发明内容
本实用新型旨在解决现有技术的不足,而提供一种真圆度检测用治具。
本实用新型为实现上述目的,采用以下技术方案:
一种真圆度检测用治具,包括检测工作台,其特征在于,所述检测工作台呈正方形板结构,所述检测工作台的四周对应设有若干安装孔,所述安装孔内同轴设有螺栓,所述检测工作台的底部四周设有若干与所述安装孔一一对应的立柱,所述检测工作台通过所述螺栓与所述立柱固接,所述检测工作台的中心设有圆形开口结构,所述圆形开口结构内同轴设有环形检测台,所述环形检测台的外壁与所述圆形开口结构的内壁固接,所述环形检测台低于所述检测工作台的上表面。
所述检测工作台为SUS不锈钢工作台。
所述环形检测台与所述检测工作台为一体结构。
所述立柱的个数为4。
本实用新型的有益效果是:本实用新型结构设计合理,操作简便,通过设置环形检测台,检测工作台,部件清洗喷砂完毕后,将部件上部扣在环形检测台上,配合检测工作台,检测部件的真圆度,与常规的游标卡尺检测相比,避免了对同一部件进行多次随机多点检测,检测方便有效,提高了检测效率的同时降低了检测误差,进而满足了检测部件的使用需求。
附图说明
图1为本实用新型的立体图;
图2为本实用新型的主视图;
图3为本实用新型的俯视图;
图中:1-检测工作台;2-环形检测台;3-螺栓;4-立柱;
以下将结合本实用新型的实施例参照附图进行详细叙述。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明:
如图1-3所示,一种真圆度检测用治具,包括检测工作台1,其特征在于,所述检测工作台1呈正方形板结构,所述检测工作台1的四周对应设有若干安装孔,所述安装孔内同轴设有螺栓3,所述检测工作台1的底部四周设有若干与所述安装孔一一对应的立柱4,所述检测工作台1通过所述螺栓3与所述立柱4固接,所述检测工作台1的中心设有圆形开口结构,所述圆形开口结构内同轴设有环形检测台2,所述环形检测台2的外壁与所述圆形开口结构的内壁固接,所述环形检测台2低于所述检测工作台1的上表面。
作为优选,所述检测工作台1为SUS304不锈钢工作台。
作为优选,所述环形检测台2与所述检测工作台1为一体结构。
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