[实用新型]一种多功能半导体三极管测试装置有效
| 申请号： | 201921492203.1 | 申请日： | 2019-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN210326331U | 公开（公告）日： | 2020-04-14 |
| 发明（设计）人： | 杨洋 | 申请（专利权）人： | 扬州信尚电子科技有限公司 |
| 主分类号： | H01R13/627 | 分类号： | H01R13/627;H01R13/629;H01R13/502;H01R13/703;H01R13/622;H01L21/67;H01L21/66 |
| 代理公司： | 南京常青藤知识产权代理有限公司 32286 | 代理人： | 毛洪梅 |
| 地址： | 225000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 多功能 半导体 三极管 测试 装置 | ||
1.一种多功能半导体三极管测试装置，包括测试电箱(1)，其特征在于：所述测试电箱(1)的内腔设置有测试电路，测试电箱(1)的前端面上端设置有螺纹孔(17)，所述螺纹孔(17)的内腔安装有插座(4)，所述插座(4)的前端插接有插头(6)，插座(4)的后端面设置有圆周阵列设置有三个圆弧状的金属拨片(14)，所述金属拨片(14)的圆弧外壁设置有接线柱(15)，所述插头(6)的前端面设置有凸台(7)，插头(6)的后端面设置有与金属拨片(14)相对应的三个圆周阵列分布的连接插片(12)，所述凸台(7)的前端设置有线性分布的三个插孔(8)，凸台(7)的外壁设置有三个圆周阵列分布的指示凹槽(9)，所述插孔(8)与测试元件(5)的引线配合插接，所述指示凹槽(9)的位置与相邻连接插片(12)之间的间隔相对应，所述连接插片(12)的前端连接插孔(8)，连接插片(12)的后端外壁延伸至金属拨片(14)的内壁。
2.根据权利要求1所述的一种多功能半导体三极管测试装置，其特征在于：所述测试电箱(1)的前端面下端设置有显示屏(2)，测试电箱(1)的前端面中间位置设置有开关按钮(3)，所述显示屏(2)和开关按钮(3)的后端均与测试电路电性连接。
3.根据权利要求1所述的一种多功能半导体三极管测试装置，其特征在于：所述插座(4)的前端外壁设置有第二外螺纹(11)，插座(4)通过第二外螺纹(11)与螺纹孔(17)之间的配合安装在测试电箱(1)的前端。
4.根据权利要求1所述的一种多功能半导体三极管测试装置，其特征在于：所述插头(6)的中间段外壁设置有第一外螺纹(10)，所述插座(4)的前端内壁设置有内螺纹(13)，所述第一外螺纹(10)与内螺纹(13)配合螺纹连接。
5.根据权利要求1所述的一种多功能半导体三极管测试装置，其特征在于：所述接线柱(15)的一端电性连接金属拨片(14)，接线柱(15)的另一端连接测试电箱(1)内腔测试电路的导线，相邻所述金属拨片(14)之间固定粘结有内径相同的绝缘插块(16)。
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