[实用新型]一种射频电阻综合参数测试装置

权利要求书

1.一种射频电阻综合参数测试装置，包括箱体(1)，其特征在于：所述箱体(1)包括箱身(2)和箱盖(3)，所述箱体(1)上设有测试组件(4)，所述箱身(2)后侧固定设有出料口(27)，所述箱盖(3)顶部固定设有把手(28)；

所述测试组件(4)包括固定壳(5)，所述固定壳(5)内部贯穿设有第一横杆(6)和第二横杆(7)，所述第一横杆(6)和第二横杆(7)上均套接设有第一齿轮(8)，所述第一齿轮(8)上套接设有第一齿条(9)，所述第一横杆(6)上套接设有第二齿轮(10)，所述第一齿条(9)外侧固定设有多个拨块(11)，所述箱身(2)一侧贯穿设有第一滑杆(12)以及另一额贯穿设有第二滑杆(13)，所述第一滑杆(12)和第二滑杆(13)一端均固定设有第二齿条(14)，所述第一滑杆(12)和第二滑杆(13)上均固定设有第一挡块(15)，所述第一滑杆(12)和第二滑杆(13)上均固定设有挡板(16)，所述第一滑杆(12)和第二滑杆(13)上均套接设有第一弹簧(17)，所述第一滑杆(12)和第二滑杆(13)一端均固定设有导电块(18)，所述导电块(18)上固定开设有凹槽(19)，所述箱盖(3)两侧均固定设有第三滑杆(20)，所述箱身(2)两侧均固定设有固定块(21)，所述第三滑杆(20)一端固定设有第二挡块(22)，所述第二挡块(22)设于固定壳(5)底部，所述第三滑杆(20)一端套接设有第二弹簧(23)，所述第三滑杆(20)一侧固定设有套管(24)，所述套管(24)内侧贯穿设有斜面杆(25)，所述斜面杆(25)端部固定设有弹簧(26)。

2.根据权利要求1所述的一种射频电阻综合参数测试装置，其特征在于：所述挡板(16)上固定设有橡胶片(29)。

3.根据权利要求1所述的一种射频电阻综合参数测试装置，其特征在于：所述箱盖(3)底部固定设有防滑垫(30)。

4.根据权利要求1所述的一种射频电阻综合参数测试装置，其特征在于：所述把手(28)上套接设有防滑套(31)。

5.根据权利要求1所述的一种射频电阻综合参数测试装置，其特征在于：所述箱盖(3)底部两侧均固定设有第一卡块(32)，所述箱身(2)顶部两侧均固定设有第二卡块(33)，所述第一卡块(32)与第二卡块(33)相卡接。

6.根据权利要求1所述的一种射频电阻综合参数测试装置，其特征在于：所述固定壳(5)固定设于箱身(2)两侧，所述第二滑杆(13)与第二齿轮(10)相啮合，所述第一滑杆(12)贯穿设于固定壳(5)一侧。

7.根据权利要求1所述的一种射频电阻综合参数测试装置，其特征在于：所述第一挡块(15)设于箱身(2)外侧，所述第一弹簧(17)设于挡板(16)一侧，所述第三滑杆(20)一端贯穿设于固定壳(5)上。

8.根据权利要求1所述的一种射频电阻综合参数测试装置，其特征在于：所述第三滑杆(20)一端贯穿设于固定块(21)上，所述第二弹簧(23)设于固定块(21)和第二挡块(22)之间，所述弹簧(26)一端固定设于第三滑杆(20)一侧。