[实用新型]一种倒装紫外发光二极管芯片有效
申请号: | 201921515520.0 | 申请日: | 2019-09-11 |
公开(公告)号: | CN211182232U | 公开(公告)日: | 2020-08-04 |
发明(设计)人: | 张向鹏;崔志勇;李勇强;薛建凯;王雪;郭凯;张晓娜 | 申请(专利权)人: | 北京中科优唯科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/06 | 分类号: | H01L33/06;H01L33/10;H01L33/14;H01L33/32;H01L33/00 |
代理公司: | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人: | 张宏伟 |
地址: | 100000 北京市大兴区经济*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 倒装 紫外 发光二极管 芯片 | ||
本专利公开了一种倒装的紫外发光二极管芯片,包括:紫外发光二极管的外延结构,所述P型欧姆接触层上设置有多个减薄区域;电流扩散层,所述电流扩散层设置在所述P型欧姆接触层的下表面;随着所述述P型欧姆接触层的表面起伏而与所述述P型欧姆接触层贴合设置;DBR透镜层,所述DBR透镜层设置在所述电流扩散层的下表面,随着电流扩散层的表面起伏而与所述沿着所述电流扩散层贴合设置;正极电极,所述正极电极的一部分穿过所述P型欧姆接触层、电流扩散层与所述P型半导体材料层接触;所述正极电极的另一部分与所述电流扩散层接触;通过上述方案提高了紫外发光二极管芯片的发光亮度。
技术领域
本专利属于半导体技术领域,具体而言涉及一种倒装紫外发光二极管及其制备方法。
背景技术
现有技术中,紫外发光二极管的外延结构如图1所示,其包括衬底100,以及从所述衬底上依次外延成核层、非掺杂氮化铝层101、n型铝镓氮层102、有源层103、电子阻挡层104和P 型空穴传导层105。由此形成的倒装紫外发光二极管的芯片结构如图2,键合新衬底。由于P 型GaN对10-350nm以下的深紫外光具有很强的吸收,导致倒装结构的紫外LED外量子效率太低,发光亮度低。
发明内容
本专利正是基于现有技术的上述缺陷而其提出的,本专利要解决的技术问题是提供一种紫外发光二极管,以及提出一种紫外发光二极管的制备方法,以克服现有技术中的至少一部分缺陷。
为了解决上述问题,本专利提供的技术方案包括:
一种倒装的紫外发光二极管芯片,其特征在于,所述芯片包括:紫外发光二极管的外延结构,所述紫外发光二极管的外延结构包括:自上而下设置的衬底、N型半导体材料层、多量子阱层、P型半导体材料层以及P型欧姆接触层;所述P型欧姆接触层上设置有多个减薄区域;电流扩散层,所述电流扩散层设置在所述P型欧姆接触层的下表面;随着所述述P 型欧姆接触层的表面起伏而与所述述P型欧姆接触层贴合设置;DBR透镜层,所述DBR透镜层设置在所述电流扩散层的下表面,随着电流扩散层的表面起伏而与所述沿着所述电流扩散层贴合设置;正极电极,所述正极电极的一部分穿过所述P型欧姆接触层、电流扩散层与所述P型半导体材料层接触;所述正极电极的另一部分与所述电流扩散层接触;负极电极,所述负极电极与所述N型半导体材料层接触。
优选地,所述正极电极和所述负极电极均设置在所述芯片底部的基底上。
优选地,优选地,优选地,所述减薄区域在所述P型欧姆接触层上均匀设置。
优选地,所述P型欧姆接触层为P型GaN层。
优选地,所述电流扩散层为ITO层。
优选地,所述衬底包括蓝宝石衬底、Si衬底或SiC衬底。
优选地,所述N型半导体材料层包括N型AlGaN、P型半导体材料层包括P型AlGaN。
优选地,在所述衬底、N型半导体材料层之间还形成有u-AlGaN层。
本专利还提供了一种倒装的紫外发光二极管芯片的制备方法,其特征在于包括如下步骤:步骤一、UV-LED基础外延层结构的制备;在衬底上制备成UV-LED基础外延层结构;步骤二、 P、N电极台面结构的制备;通过光刻或ICP刻蚀将外延层做出P、N电极台面;步骤三,窗口型P型GaN制备;将P型GaN区域刻蚀出凹凸形状;步骤四,ITO层的制备:蒸镀ITO层,完成后将P型GaN层的P电极区域内圈的ITO刻蚀,外圈的留下用来搭载P电极;步骤五, DBR层的制备:在ITO薄膜上蒸镀DBR层,然后通过刻蚀去掉N台面、P电极下方的DBR层;步骤六,P、N电极的制备:将P、N电极分别用不同金属蒸镀。
优选地,所述方法还包括:步骤七,键合衬底:通过键合工艺将P、N电极键合在新衬底上,将蓝宝石衬底减薄。
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