[实用新型]半导体器件有效
申请号: | 201921527295.2 | 申请日: | 2019-09-12 |
公开(公告)号: | CN210272376U | 公开(公告)日: | 2020-04-07 |
发明(设计)人: | 崔京京;章剑锋;黄玉恩 | 申请(专利权)人: | 瑞能半导体科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872;H01L29/06;H01L21/04 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 娜拉 |
地址: | 330200 江西省南昌市*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体器件 | ||
本实用新型实施例提供一种半导体器件。本实用新型实施例提供的半导体器件包括第一电极层;衬底层,位于第一电极层上;外延层,位于衬底层上并具有远离衬底层的第一表面;阱区,阱区由第一表面向外延层内延伸设置,阱区包括在第一方向上交替分布的第一阱区及第二阱区,第二阱区包括间隔分布的多个掺杂单元,在第一方向上第一阱区的最大宽度大于等于掺杂单元的最大宽度;第二电极层,覆盖外延层及阱区设置。本实用新型实施例提供的半导体器件,在具备优异的正向额定导通能力的同时,具备更强的浪涌电流导通能力。
技术领域
本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种半导体器件。
背景技术
肖特基二极管作为发展时间久、技术成熟的半导体器件结构,其属于一种超高速半导体器件,在能源转换领域得到广泛应用,多用作高频应用环境。
目前的肖特基二极管往往采用结势垒肖特基二极管,在大电流条件下(浪涌电流来临时),PN结导通,向器件的漂移区注入少子空穴,从而提高器件的浪涌电流能力,因此P型阱区面积越大,器件的浪涌电流能力越强。但是,P型阱区面积越大,在相同面积条件下器件的P型阱区之间的肖特基面积会越小,导致在正向导通模式下,器件的导通电阻显著增加。
因此,亟需一种新的改进的半导体器件。
发明内容
本发明实施例提供一种半导体器件,能够在具备优异的正向额定导通能力的同时,具备更强的浪涌电流导通能力。
第一方面,本发明实施例提供一种半导体器件,包括:
第一电极层;
衬底层,位于第一电极层上;
外延层,位于衬底层上并具有远离衬底层的第一表面;
阱区,阱区由第一表面向外延层内延伸设置,阱区包括在第一方向上交替分布的第一阱区及第二阱区,第二阱区包括间隔分布的多个掺杂单元,在第一方向上第一阱区的最大宽度大于等于掺杂单元的最大宽度;
第二电极层,覆盖外延层及阱区设置。
根据本发明实施例的一个方面,第一阱区在第一表面上的正投影为条形,掺杂单元在第一表面上的正投影为圆形或多边形。
根据本发明实施例的一个方面,第二阱区内多个掺杂单元规则排布,在垂直于第一方向的第二方向上,分布有一列或者多列掺杂单元。
根据本发明实施例的一个方面,第二电极层包括电连接的第一金属层及第二金属层,第一金属层位于阱区背向衬底层的一侧,第二金属层覆盖外延层及第一金属层设置;
第一金属层与阱区之间形成欧姆接触,第二金属层与外延层之间形成肖特基接触。
根据本发明实施例的一个方面,第一金属层包括与阱区一一对应设置的多个金属块,金属块在阱区上的正投影在阱区的边界范围内。
根据本发明实施例的一个方面,在第一方向上,第一阱区的最大宽度为3μm~20μm,掺杂单元的最大宽度为0.5μm~3μm。
根据本发明实施例的一个方面,衬底层为具有第一掺杂浓度的第一导电类型,外延层为具有第二掺杂浓度的第一导电类型,阱区为第二导电类型;
第一掺杂浓度高于第二掺杂浓度,第一导电类型与第二导电类型相反,第一导电类型为N型。
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