[实用新型]托卡马克等离子体内快电子高时空分辨成像系统有效

专利信息
申请号: 201921561075.1 申请日: 2019-09-19
公开(公告)号: CN211318766U 公开(公告)日: 2020-08-21
发明(设计)人: 张轶泼;张洁 申请(专利权)人: 核工业西南物理研究院
主分类号: G01T1/29 分类号: G01T1/29;G21B1/05
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 孙成林
地址: 610041 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 马克 等离子 体内 电子 时空 分辨 成像 系统
【说明书】:

实用新型公开了一种托卡马克等离子体内快电子高时空分辨成像系统,它包括小孔成像探头、真空密封管道、图像传输系统和图像增强与采集系统。其有益效果在于:本实用新型有效地解决了目前托卡马克等离子体快电子成像测量系统存在的问题,提高测量结果的时空分辨率,同时也能够提高测量精度和可靠性,非常适用于托卡马克等离子体快电子的高时空演化图像测量。

技术领域

本实用新型属于一种核测量系统,具体涉及一种托卡马克等离子体内快电子高时空分辨成像测量系统,特别适用于磁约束核聚变装置的快电子成像测量系统。

背景技术

在环向电场加速、射频波加热和电流驱动条件下,在磁约束核聚变等离子体内会有大量的快电子产生,这些快电子可激发磁流体不稳定性,从而导致等离子体约束品质下降。此外,这些快电子在环向电场的加速下进入逃逸区成为逃逸电子,大量逃逸电子产生将导致逃逸电子束的形成,逃逸电子束损失出等离子体轰击装置第一壁时将对装置的安全运行构成极大的威胁。因此,托卡马克等离子体快电子研究是目前的重大课题之一。等离子体快电子测量系统是开展相关物理实验研究的基础。

等离子体内快电子由于库伦碰撞而发生韧致辐射,从而产生出硬X射线辐射。这些硬X射线携带着丰富的快电子信息,例如:快电子的能量分布,快电子运动的螺旋角,快电子群的产生、约束和损失等演化。目前托卡马克等离子体快电子成像测量采用多个硬X射线探测器阵列,对测量数据进行层析反演计算得到快电子图像。目前的快电子成像测量系统存在以下问题:(1)空间分辨率低,这是由于硬X射线探测器阵列由单个的探测器组成,而探测器具有一定的体积,从而限制了测量系统的空间分辨率;(2)时间分辨率低,硬X射线探测器通常采用半导体探测器,其计数率在105cps量级,由于因此受制于探测器计数率,快电子成像的时间分辨率较低;(3)测量精度低,在进行层析反演计算时一些条件进行了假设,得到的快电子图像并不和实际情况完全相符,因此测量结果的精度较低。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种托卡马克等离子体内快电子高时空分辨成像系统,它能够有效地解决目前快电子成像测量系统存在的问题,提高测量结果的时空分辨率,同时也能够提高测量精度和可靠性。

本实用新型的技术方案如下:托卡马克等离子体内快电子高时空分辨成像系统,它包括小孔成像探头、真空密封管道、图像传输系统和图像增强与采集系统。

所述的小孔成像探头包括入射孔、屏蔽保护盒、闪烁体屏、石英基板、固定法兰、真空密封法兰和螺栓,所述的入射孔位于屏蔽保护盒前端面的中心,闪烁体屏电镀沉积在石英基板上,闪烁体屏和石英基板通过固定法兰固定,固定法兰的前端和后端分别与屏蔽保护盒和真空密封法兰连接,螺栓将真空密封法兰固定。

所述的入射孔的直径φ5mm,长度10mm;屏蔽保护盒的材料为304无磁不锈钢,厚度10mm,中空圆柱体,内径φ50mm,长度50mm;闪烁体屏为圆形,直径φ50mm,厚度500μm,材料为碘化铯;石英基板为圆形,直径φ51mm,厚度1mm,材料为石英;固定法兰的直径φ50mm,料为304无磁不锈钢;真空密封法兰的直径φ100mm,材料为304无磁不锈钢;螺栓的直径φ8mm,材料为304无磁不锈钢。

所述的图像增强与采集系统包括图像增强器、中继镜和高速可见光相机,图像增强器的前端与光纤束固定后端面相耦合,图像增强器的后端与中继镜相连接,中继镜的后端与高速可见光相机耦合连接。

所述的图像增强器的增益系数106;中继镜的型号肖特IG1650,C接口;高速可见光相机的型号Phantom V1610-32GB,像素1280*800,全像素帧频15kfps。

所述的图像传输系统包括成像镜头、光纤束固定前端面、成像光纤束和光纤束固定后端面,成像镜头通过光纤束固定前端面与成像光纤束相耦合,光纤束固定后端面与成像光纤束的后端相连。

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