[实用新型]一种基于单色X射线衍射的标定装置

说明书

本实用新型公开了一种基于单色X射线衍射的标定装置，其中，基材包括上表面和下表面；黏结层配置成将标定装置固定到X射线衍射的样品表面上，所述黏结层设在所述下表面；多晶粉末层设在所述下表面，X射线衍射仪的探测器采集来自样品表面的第一衍射信号和来自多晶粉末的第二衍射信号。

技术领域

本实用新型属于衍射测量技术领域，特别是一种基于单色X射线衍射的标定装置。

背景技术

X射线衍射仪使用X射线光源进行衍射实验，收集实验产生的射线，收集为衍射谱。通过分析该衍射谱，能够对样品进行相鉴定、应力分析。若该衍射仪为劳厄法，则亦能进行取向分析。因此，X射线衍射仪及其分析技术在冶金学、材料学、生物学等领域的科学研究及工业生产中具有广泛应用。

然而，为达到足够的分析精度，需要对X射线衍射仪时常进行标定，常见的标定方法是使用标样。然而制备标样往往需要较长时间，且标样的高度与实测样品往往相差较远，标定后仍需进一步调整样品高度，影响了其精度。因此，为获得更加精确的精度，往往需要同时收录待测样品与标样信号，然而待测样品可能存在较复杂的表面形貌，对同时收录产生了较大影响。基于其现实问题，需要开发一种衍射仪标定装置，能够方便的在各种衍射几何下进行标定，具有使用方便、节约时间的特点。

在背景技术部分中公开的上述信息仅仅用于增强对本实用新型背景的理解，因此可能包含不构成在本国中本领域普通技术人员公知的现有技术的信息。

实用新型内容

针对现有技术中存在的问题，本实用新型提出一种基于单色X射线衍射的标定装置，简化测量需求，能够方便的在各种衍射几何下进行标定，具有使用方便、节约时间的特点。

本实用新型的目的是通过以下技术方案予以实现，一种基于单色X射线衍射的标定装置包括，

基材，其包括上表面和下表面；

黏结层，配置成将标定装置固定到X射线衍射的样品表面上，所述黏结层设在所述下表面；

附着层，其用于将多晶粉末层附着到所述下表面，

多晶粉末层，其设在所述附着层，X射线衍射仪的探测器采集来自样品表面的第一衍射信号和来自多晶粉末的第二衍射信号。

所述的标定装置中，所述多晶粉末层的厚度小于X射线对多晶粉末的穿透深度的五分之一，用以同时收集来自标定表面的第一衍射信号及来自多晶粉末的第二衍射信号。

所述的标定装置中，所述多晶粉末层包括设在其中的完全透过X射线的不连续区域，使X射线的入射束移动到所述不连续区域时，第二衍射信号停止被采集。

所述的标定装置中，所述多晶粉末层的厚度大于X射线对多晶粉末的穿透深度的五分之一，使得来自样品表面的第一衍射信号停止被采集。

所述的标定装置中，多晶粉末包括氧化铝粉末、硅粉末、碳酸钙粉末和/或锂镧锆氧粉末。

所述的标定装置中，所述基材为对X射线透明的材料制成。

所述的标定装置中，所述标定装置为胶带。

所述的标定装置中，多晶粉末层经由多晶粉末的溶液、乳浊液或悬浊液喷洒于所述上表面后干燥形成。

所述的标定装置中，所述黏结层设有刻度

和现有技术相比，本实用新型具有以下优点：

本实用新型通过将标定用多晶粉末预先置于能够自由黏贴至待标定表面的胶带中，能够达到使用方便，节约使用时间，对于复杂表面和非水平表面具有固定方便的优势。

附图说明