[实用新型]一种基于散热机构的半导体制冷片测试装置有效
| 申请号： | 201921597719.2 | 申请日： | 2019-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN210626254U | 公开（公告）日： | 2020-05-26 |
| 发明（设计）人： | 耿靳财;徐越;祁奇;莫雄峰 | 申请（专利权）人： | 青云志能源科技(苏州)有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/60 | 分类号： | G01N3/60;G01M7/08 |
| 代理公司： | 苏州启华专利代理事务所(普通合伙) 32357 | 代理人： | 徐伟华 |
| 地址： | 215222 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 散热 机构 半导体 制冷 测试 装置 | ||
1.一种基于散热机构的半导体制冷片测试装置，用于半导体制冷片的老化测试，其特征在于，包括：散热机构、供电电源、温度监控记录仪和电控装置，所述半导体制冷片设置在散热机构上，所述供电电源与电控装置相连接进行电力供应，所述电控装置与半导体制冷片相连接，循环进行半导体制冷片的正向通电和反向通电，并设定每次正向通电和反向通电时间及循环测试的次数，所述温度监控记录仪的探头设置在半导体制冷片表面进行温度监控和记录。
2.根据权利要求1所述的基于散热机构的半导体制冷片测试装置，其特征在于，所述散热机构包括第一散热块和第二散热块，所述第二散热块设置在第一散热块的上方，所述半导体制冷片被夹持在第一散热块和第二散热块之间。
3.根据权利要求2所述的基于散热机构的半导体制冷片测试装置，其特征在于，所述第一散热块的底部及第二散热块的顶部间隔设置有散热槽而形成翅片结构。
4.根据权利要求2所述的基于散热机构的半导体制冷片测试装置，其特征在于，所述第一散热块和第二散热块分别为铝合金散热块，所述半导体制冷片阵列排布在第一散热块和第二散热块之间。
5.根据权利要求1所述的基于散热机构的半导体制冷片测试装置，其特征在于，所述供电电源为可调电源。
6.根据权利要求1所述的基于散热机构的半导体制冷片测试装置，其特征在于，所述电控装置为微电脑控制器。
7.根据权利要求1所述的基于散热机构的半导体制冷片测试装置，其特征在于，所述温度监控记录仪的探头分别设置在半导体制冷片的上表面和下表面。
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