[实用新型]一种集中处理供电电源管理系统有效
申请号: | 201921618633.3 | 申请日: | 2019-09-26 |
公开(公告)号: | CN210297564U | 公开(公告)日: | 2020-04-10 |
发明(设计)人: | 王瑾;钟绪浪;石丹国;邓俊浩;刘婷 | 申请(专利权)人: | 深圳市大族半导体测试技术有限公司 |
主分类号: | H02M7/04 | 分类号: | H02M7/04;H02M1/14;G01R31/28 |
代理公司: | 深圳市韦恩肯知识产权代理有限公司 44375 | 代理人: | 李华双 |
地址: | 518103 广东省深圳市宝安区福*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集中 处理 供电 电源 管理 系统 | ||
本实用新型涉及电源的技术领域,公开了一种集中处理供电电源管理系统,包括:输入接口模块,用于接收输入的电压;控制功率转换模块,用于将所述输入接口模块输入的电压转换为一组或多组所需电压;滤波模块,用于对所述控制功率转换模块转换的电压进行滤波;输出接口模块,用于输出所述滤波模块滤波后的电压;控制模块,与上位机通信,用于控制所述控制功率转换模块使能、接收所述输入接口模块和所述输出接口模块的报警信号。通过上位机和控制模块配合控制多路电源同步及单独输出,可以大大的降低集中处理供电电源管理系统的纹波,提高整体电源供电水平。
技术领域
本实用新型涉及测试电源的技术领域,尤其涉及一种集中处理供电电源管理系统和供电管理方法。
背景技术
现有技术中的半导体芯片测试设备,其供电系统采用多组分立电源组合供电,或通过部分开关电源模块进行供电,这种供电方式对电源的性能及干扰滤波较差,易造成对芯片测试电特征参数时测试误差范围过大、一致性差等问题,尤其是过大的纹波等干扰容易导致测试芯片损坏或增加不良率。
针对现有技术中半导体芯片测试设备中存在的上述问题,现提供一种旨在对半导体测试设备设计一种集中处理供电电源管理系统,多路滤波控制的方法,降低电源相关参数对半导体芯片电特征参数精准测量的影响,有效的提高了半导体芯片测试设备性能指标,提升半导体芯片测试设备的市场竞争力。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种集中处理供电电源管理系统,旨在解决现有技术中半导体芯片测试设备采用多组分立电源,导致对半导体芯片电特征参数精准误差较大的影响的问题。
本实用新型是这样实现的,一种集中处理供电电源管理系统包括:输入接口模块,用于接收输入的电压;控制功率转换模块,用于将所述输入接口模块输入的电压转换为一组或多组所需电压;滤波模块,用于对所述控制功率转换模块转换的电压进行滤波;输出接口模块,用于输出所述滤波模块滤波后的电压;控制模块,与上位机通信,用于控制所述控制功率转换模块使能、接收所述输入接口模块和所述输出接口模块的报警信号。
优选的,所述输入接口模块包括AC-DC输入接口。
优选的,所述控制模块包括CPLD相关单元。
优选的,所述输入接口模块、所述控制功率转换模块、所述滤波模块、所述输出接口模块以及所述控制模块集成于单块板卡上。
与现有技术相比,本实用新型中的一种集中处理供电电源管理系统通过上位机和控制模块配合控制多路电源同步及单独输出,可以大大的降低电源的纹波,提高整体电源供电水平。同时,对后级的供电更加稳定可控,满足精密级别芯片测试。
附图说明
图1为本实用新型实施例提供的一种集中处理供电电源管理系统的框体示意图;
图2为本实用新型实施例提供的供电管理方法的流程示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
以下结合具体附图对本实施例的实现进行详细的描述。
实施例一
如图1所示,本实施例中提供了一种集中处理供电电源管理系统,包括依次电连接的输入接口模块11、控制功率转换模块12、滤波模块13、输出接口模块14;以及控制模块15,控制模块15同时电连接于输入接口模块11、控制功率转换模块12、输出接口模块14。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市大族半导体测试技术有限公司,未经深圳市大族半导体测试技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201921618633.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电池包固定支架及电池包
- 下一篇:一种十字线结构光双目视觉扫描装置