[实用新型]一种LED芯片测试装置

权利要求书

1.一种LED芯片测试装置,其特征在于：包括测试台（1），所述测试台（1）的上表面开设有凹槽（2），所述测试台（1）的外侧壁开设有测试槽（21），所述测试槽（21）与凹槽（2）相连通，所述测试槽（21）的内部滑动连接有载物机构（3），所述载物机构（3）包括载物板（4）、放置板（5）和限位板（6），所述载物板（4）位于放置板（5）的下方，所述限位板（6）位于放置板（5）的上方。

2.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试装置，其特征在于：所述放置板（5）的侧壁开设有多个等距分布的放置槽（51），所述限位板（6）的上表面开设有与多个放置槽（51）相对应的限位槽（61），多个所述限位槽（61）均与放置槽（51）相连通，所述限位槽（61）正面的长度均比放置槽（51）正面的长度短。

3.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试装置，其特征在于：所述载物板（4）上表面的两侧均固定连接有两个限位柱（7），所述放置板（5）和限位板（6）的侧壁均开设有与四个限位柱（7）相对应的限位孔（71），四个所述限位柱（7）的顶端均通过限位孔（71）贯穿放置板（5）和限位板（6）。

4.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试装置，其特征在于：所述载物板（4）相对的两侧外侧壁均固定连接有把手（8），所述放置板（5）相对的两外侧壁均固定连接有第一手持块（52），所述限位板（6）的相对两外侧壁均固定有第二手持块（62），同侧所述第一手持块（52）和第二手持块（62）均交错设置。

5.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试装置，其特征在于：所述测试台（1）外侧壁的底端固定连接有延展台（9），所述延展台（9）上表面的两侧均固定连接有延展板（91），所述延展台（9）与测试槽（21）的开口方向均位于测试台（1）的同一侧。