[实用新型]一种用于自动化测试SSD上下电的装置

权利要求书

1.一种用于自动化测试SSD上下电的装置，其特征在于，所述装置包括MCU、主电支路、辅电支路和切换电路；所述MCU通过RELAY1_EN信号控制所述主电支路工作，所述主电支路用于将输入主电P12VIN_MAIN转化为输出主电P12V0_MAIN1和主电过流保护，所述MCU通过RELAY2_EN信号控制所述辅电支路工作，所述辅电支路用于将输入辅电P12VIN_AUX转化为输出辅电P12V0_AUX1和辅电过流保护，所述切换电路用于输出主电P12V0_MAIN1和输出辅电P12V0_AUX1的切换，所述切换电路的输出电压P12V0_COM作为所述装置的输出并给SSD供电。

2.根据权利要求1所述的一种用于自动化测试SSD上下电的装置，其特征在于，所述主电支路包括主电开关电路和主电过流保护电路，所述主电开关电路的输入端连接MCU，所述主电开关电路的输出端连接所述主电过流保护电路的输入端，所述主电过流保护电路的输出端连接所述切换电路。

3.根据权利要求1所述的一种用于自动化测试SSD上下电的装置，其特征在于，所述辅电支路包括辅电开关电路和辅电过流保护电路，所述辅电开关电路的输入端连接MCU，所述辅电开关电路的输出端连接所述辅电过流保护电路的输入端，所述辅电过流保护电路的输出端连接所述切换电路。

4.根据权利要求1所述的一种用于自动化测试SSD上下电的装置，其特征在于，所述MCU包括芯片U1，U1的7引脚连接电阻R2的一端，电阻R2的另一端通过电容C1接地，电阻R2的另一端通过电阻R1连接P3V3_MCU,U1的16引脚连接P3V3_MCU和电容C2的一端，U1的15引脚连接地和电容C2的另一端，U1的46引脚连接电阻R5的一端，电阻R5的另一端连接所述主电开关电路，U1的49引脚连接电阻R6的一端，电阻R6的另一端连接所述辅电开关电路，U1的10、26、38和57引脚连接磁珠FB1的一端，磁珠FB1的一端连接P3V3_MCU、电容C3的一端、电容C4的一端、电容C5的一端、电容C6的一端和U1的35引脚，磁珠FB1的另一端连接U1的19引脚和电容C8的一端，U1的9、25和41引脚连接电容C3的另一端，电容C3的另一端连接电容C4的另一端、电容C5的另一端、电容C6的另一端和地，电容C8的另一端连接U1的20引脚、65引脚和地，U1的56引脚通过电容C7接地，U1的34引脚通过电阻R7接地。

5.根据权利要求2所述的一种用于自动化测试SSD上下电的装置，其特征在于，所述主电开关电路包括第一继电器，所述第一继电器的线圈连接RELAY1_EN信号，所述第一继电器的常开触点连接输入主电P12VIN_MAIN，所述第一继电器的公共触点连接所述主电过流保护电路的输入端P12VO_MAIN。

6.根据权利要求3所述的一种用于自动化测试SSD上下电的装置，其特征在于，所述辅电开关电路包括第二继电器，所述第二继电器的线圈连接RELAY2_EN信号，所述第二继电器的常开触点连接输入辅电P12VIN_AUX，所述第二继电器的公共触点连接所述辅电过流保护电路的输入端P12VO_AUX。