[实用新型]一种扫描隧道显微镜探头的双层样品台

权利要求书

1.一种扫描隧道显微镜探头的双层样品台，其特征在于，包括：上层样品架和下层样品架；

以所述上层样品架的左右方向为x轴，以其上下方向为y轴，以其前后方向为z轴方向，所述上层样品架上设置z轴朝向的U型缺口，所述下层样品架上设置凸起，所述缺口与凸起嵌套，且所述凸起的尺寸小于所述缺口的尺寸，所述上层样品架和所述下层样品架在x轴方向上的水平间隔小于所述扫描隧道显微镜探头中针尖的最大水平移动量；

所述上层样品架非缺口处用于放置辅助样品；所述下层样品架的凸起用于放置目标样品；工作状态下辅助样品的上表面与目标样品的上表面在y轴方向上的高度差小于等于针尖基于上层样品架的最大竖直移动量。

2.根据权利要求1所述的双层样品台，其特征在于，所述上层样品架和所述下层样品架的z轴方向上设置有把手，且下层样品架把手位于上层样品架把手的前方。

3.根据权利要求1或2所述的双层样品台，其特征在于，所述辅助样品为金属单晶，用于修饰针尖。

4.根据权利要求1或2所述的双层样品台，其特征在于，所述针尖为磁性针尖，所述辅助样品为表征针尖磁性状态的样品。

5.根据权利要求1或2所述的双层样品台，其特征在于，所述针尖用于操纵原子时，所述辅助样品为材料原子，所述目标样品为目标原子。

6.根据权利要求1至2任一所述的双层样品台，其特征在于，所述针尖的最大水平移动量为5mm，上层样品架和下层样品架在x轴方向上的水平间隔为1.5mm。

7.根据权利要求1至2任一所述的双层样品台，其特征在于，所述工作状态下辅助样品的上表面与目标样品的上表面在y轴方向上的高度差小于等于0.1mm。