[实用新型]一种光度检测装置

说明书

本实用新型公开了一种光度检测装置，用于提高测试的精准度。该光度检测装置包括支撑架、积分球、测试治具、第一线性模组、和第二线性模组。积分球设置在支撑架上，积分球包括腔体和采样口。测试治具上设有安装位，安装位用于放置芯片。测试治具和第一线性模组连接，第一线性模组用于在第一方向上调节测试治具的位置。第二线性模组用于在第二方向上调节第一线性模组的位置。第一方向和第二方向垂直且平行于水平面。当测试芯片发射的光的光度时，采样口朝向芯片，以使芯片发射的光通过采样口进入腔体。这样，通过第一线性模组和第二线性模组在平行于水平面的方向上对测试治具的位置进行调节，实现对芯片发出的光的光度的检测，提高测试的精准度。

技术领域

本实用新型涉及测试设备技术领域，尤其涉及一种光度检测装置。

背景技术

芯片也称为集成电路(Integrated Circuit，IC)，是一种高价值和高精度的零部件，需要对其进行严格的产品检测。例如对发光的芯片需要进行光度检测。

现有的光度检测装置，在芯片供电发光后，使用光度测试器获取芯片发出的光，然后，对获取的光进行分析，得到测试结果。但是，这样的装置，因光度测试器和芯片的相对位置不方便进行控制，导致测试结果误差较大。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种光度检测装置，用于提高测试的精准度。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种光度检测装置，包括：

支撑架；

积分球，所述积分球设置在所述支撑架上，所述积分球包括腔体和采样口，所述腔体和所述采样口连通，所述积分球用于进行光度检测；

测试治具，所述测试治具上设有安装位，所述安装位用于放置待测试的芯片；

第一线性模组，所述测试治具和所述第一线性模组连接，所述第一线性模组用于在第一方向上调节所述测试治具的位置；

第二线性模组，所述第一线性模组设置在所述第二线性模组上，所述第二线性模组用于在第二方向上调节所述第一线性模组的位置；

所述第一方向和所述第二方向垂直，所述第一方向和所述第二方向平行于水平面；

当测试所述芯片发射的光的光度时，所述采样口朝向所述芯片，以使所述芯片发射的光通过所述采样口进入所述腔体。

可选地，所述光度检测装置还包括第一转动装置，所述第一转动装置设置在所述第一线性模组上，所述测试治具和所述第一转动装置连接，所述第一转动装置用于控制所述测试治具绕第一轴线转动；

所述第一轴线平行于水平面。

可选地，所述光度检测装置还包括第二转动装置；

所述第二转动装置设置在所述第一转动装置上，所述测试治具设置在所述第二转动装置上，所述第二转动装置用于控制所述测试治具绕第二轴线转动，所述第二轴线垂直于水平面；

所述第一转动装置还用于控制所述第二转动装置绕所述第一轴线转动。

可选地，所述第一线性模组包括第一电机、第一滑台、第一导轨和第一滚珠丝杆；

所述第一滚珠丝杆和所述第一电机的输出轴连接，所述第一滚珠丝杆贯穿所述第一滑台，所述第一滚珠丝杆和所述第一滑台螺纹连接，所述第一滑台和所述第一导轨滑动连接；

所述测试治具和所述第一滑台连接。

可选地，所述第二线性模组包括第二电机、第二滑台、第二导轨和第二滚珠丝杆；