[实用新型]一种用于评价光学元件防霉防雾能力的夹具

说明书

本实用新型公开一种用于评价光学元件防霉防雾能力的夹具，其特征在于，这种光学元件防霉防雾能力评价夹具由镜筒、左套筒、左压环、右压环、右套筒组成，左压环、右压环位于镜筒内部的中间位置，左套筒及右套筒位分别位于镜筒内部左压环及右压环的外侧，并通过螺纹与镜筒联接。镜筒内部、左套筒内外部、右套筒内外部均具有螺纹，且均为细牙消光螺纹。使用时，光学防霉防雾测试片位于测试夹具镜筒内部的中间，两侧分别由左压环、右压环固定；左套筒、右套筒位于左压环、右压环的外侧，并进一步固定左压环、右压环；具有成本低、易操作，可排除不同光学结构对测试结果的影响，低成本而客观直接的评价光学元件防霉防雾能力。

技术领域

本实用新型涉及光学仪器防霉领域，尤其是一种用于评价光学元件防霉防雾能力的夹具。

背景技术

光学仪器在长期使用和储存过程中，由于使用或保管不当等原因，作为光学仪器“眼睛”的光学元件表面会缓慢生霉起雾。光学元件表面生霉起雾实际上是光学元件表面出现一种蜘蛛丝状微生物，即霉菌在光学元件表面上蔓延繁殖的菌丝体。用显微镜观察，这种蜘蛛丝状物是由菌丝、菌丝的分泌液和凝聚在外层的雾状物组成的，其能腐蚀光学元件表面。业内一般将光学仪器中光学元件表面生霉起雾的现象直接称之为光学仪器长霉。

光学仪器一旦长霉，就会使光线在光学元件表面发生散射，产生杂散光，降低仪器的透光率和鉴别率，从而导致目标成像模糊不清，最终导致仪器完全丧失使用功能，并彻底报废。

JBT 9348.2-1999《光学仪器防霉、防雾、防锈技术要求》提供了一种以目视法分级直接定性评价光学仪器防霉防雾效果的方法。基于JBT 9348.2-1999以目视评定光学仪器防霉防雾效果准确性低、再见性不好的问题，程守澄等人在《光学仪器霉雾的光电检测》一文中提出了一种通过测试光学仪器杂散光而定量评价光学仪器防霉效果优劣的方法,当含有杂散光影响的调制传函（MTF_s）与不考虑杂散光影响的调制传函（MTF）之比为1时，光学仪器没有发霉起雾；MTF_s/MTF值越小，说明光学元件表面因发霉起雾而产生的杂散光越多，自然光学仪器发霉越严重。无论是JBT 9348.2-1999还是《光学仪器霉雾的光电检测》，都是以具体的光学仪器评定防霉防雾效果，不但投入大，而且无法排除光学仪器结构不同对光学元件表面生霉起雾的影响，不利于更为客观的开展光学元件防霉防雾研究。

发明内容

本实用新型的目的在于，解决以具体的光学仪器评定防霉防雾效果，不利于更为客观的开展光学元件防霉防雾研究的问题，提供一种简单而易于使用的光学元件防霉防雾能力评价夹具，通过此夹具，可低成本而客观的直接评价光学元件的防霉防雾能力，为研究光学元学材料防防霉防雾技术奠定基础。

本实用新型公开了一种用于评价光学元件防霉防雾能力的夹具，其特征在于，这种光学元件防霉防雾能力评价夹具由镜筒、左套筒、左压环、右压环、右套筒组成，左压环、右压环位于镜筒内部的中间位置，左套筒及右套筒位分别位于镜筒内部左压环及右压环的外侧，并通过螺纹与镜筒联接。左套筒与右套筒在测试夹具装配过程中可互换，左压环与右压环在测试夹具装配过程中可互换。为进一步提高测试精度，减少测试夹具所产生杂散光对测试结果的影响，测试夹具镜筒、左套筒、左压环、右压环、右套筒内外表面均做发黑处理，镜筒内部、左套筒内外部、右套筒内外部均具有螺纹，且均为细牙消光螺纹。

本实用新型公开的光学元件防霉防雾能力评价夹具具体使用方法如下：a.将表面接种菌种，并经培育的光学防霉防雾测试片装入测试夹具镜筒内部的中间，两侧分别用左压环、右压环固定，左套筒、右套筒进一步固定左压环、右压环，从而形成杂散光测试件；b.测试杂散光测试件MTF_s/MTF值；c.根据杂散光测试件MTF_s/MTF值确定光学元件防霉防雾能力，MTF_s/MTF值越接近1，则光学元件防霉防雾能力越强。