[实用新型]一种声发射信号处理装置及光学元件损伤检测系统有效

专利信息
申请号: 201921684282.6 申请日: 2019-10-09
公开(公告)号: CN211179665U 公开(公告)日: 2020-08-04
发明(设计)人: 马文静;张军伟;徐振源;向勇;陈良明;胡东霞;袁晓东;袁强;周丽丹;房奇;李可欣 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01N29/44 分类号: G01N29/44;G01N29/14;G01N29/04;G01N29/24
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 张萌
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 声发 信号 处理 装置 光学 元件 损伤 检测 系统
【说明书】:

本申请提供一种声发射信号处理装置及光学元件损伤检测系统,通过将传感器设置到待测光学元件上,并将获取到的待测光学元件所产生的声发射信号传输给声发射信号处理装置;声发射信号处理装置进行信号放大、滤波、转换为数字信号、提取出声发射信号的特征参数后,将特征参数输送给计算机系统,以供计算机系统基于特征参数确定出待测光学元件的损伤类型和损伤程度。相较于相关技术而言,声发射信号检测具有更高的准确性,检测结果可以直接由计算机系统确定出来,不需要用户进行人工观察,检测效率更高。

技术领域

本申请涉及光学元件损伤检测技术领域,具体而言,涉及一种声发射信号处理装置及光学元件损伤检测系统。

背景技术

目前,光学元件损伤的在线检测装置大多采用暗场成像技术,即利用主动式光源照明被检的光学元件,通过人工观察采集到的图像的方式,从而判断出光学元件是否存在损伤。如果光学元件存在损伤,则损伤点会产生散射光,用成像光学系统接收损伤点产生的后向散射光,就可以在暗背景下观察到明亮的损伤图像。如果被检测光学元件无损伤,则视场总是暗场。但该在线检测装置存在图像质量差(导致检测准确度差),检测效率低等缺点。

实用新型内容

本申请实施例的目的在于提供一种声发射信号处理装置及光学元件损伤检测系统,用以解决相关技术检测准确度差、检测效率低下的问题。

本申请实施例提供了一种声发射信号处理装置,包括:前置放大器、模拟滤波器、模数转换器和数字信号处理器;

所述前置放大器的输入端与设置于待测光学元件上的传感器的输出端连接,用于接收所述传感器传来的所述待测光学元件所产生的声发射信号并进行放大处理;

所述模拟滤波器的输入端与所述前置放大器的输出端连接,用于接收经由所述前置放大器放大处理后的声发射信号,并对所述前置放大器放大处理后的声发射信号进行滤波处理,以保留所需频段的模拟信号;

所述模数转换器的输入端与所述模拟滤波器的输出端连接,用于接收经由所述模拟滤波器滤波处理后得到的模拟信号,并将所述滤波处理后得到的模拟信号转换为数字信号;

所述数字信号处理器的输入端与所述模数转换器的输出端连接,所述数字信号处理器的输出端与计算机系统连接,以对所述数字信号进行处理,提取出所述声发射信号的特征参数,并将所述特征参数输送给所述计算机系统,以供所述计算机系统基于所述特征参数确定出所述待测光学元件的损伤类型和损伤程度。

在上述实现过程中,声发射信号处理装置包括前置放大器、模拟滤波器、模数转换器和数字信号处理器。通过前置放大器对待测光学元件运行时产生的声发射信号进行放大,然后由模拟滤波器进行滤波,仅保留需要的频段的电信号,再由模数转换器进行信号转换以使得数字信号处理器得以从转换后的数字信号中提取出声发射信号的特征参数给到计算机系统进行处理,从而确定出待测光学元件的损伤类型和损伤程度。这样,利用光学元件在存在物理损伤时,运行过程中会产生声发射信号的特点,采用声发射信号处理装置对声发射信号进行采集、处理,从而使得计算机系统得以确定出待测光学元件的损伤类型及损伤程度。相较于相关技术而言,声发射信号检测具有更高的准确性,检测结果可以直接由计算机系统确定出来,不需要用户进行人工观察,检测效率更高。

进一步地,所述声发射信号处理装置还包括供电电池;所述供电电池分别与所述前置放大器、所述模拟滤波器、所述模数转换器、以及所述数字信号处理器连接,以为所述前置放大器、所述模拟滤波器、所述模数转换器、以及所述数字信号处理器供电。

在上述实现结构中,通过供电电池来为前置放大器、模拟滤波器、模数转换器、以及数字信号处理器连接,使得声发射信号处理装置可独立运行,不依赖于外接电源的限制,提升了声发射信号处理装置的可用性。

进一步地,所述声发射信号处理装置还包括存储器;所述存储器与所述数字信号处理器连接,以接收并保存所述数字信号处理器处理得到的所述特征参数。

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