[实用新型]一种用于集成电路的冲流道设备有效

专利信息
申请号: 201921692535.4 申请日: 2019-10-10
公开(公告)号: CN211221059U 公开(公告)日: 2020-08-11
发明(设计)人: 曹立龙;刘文超;黄银青;方唐利;朱晟;陈海涛;钱明 申请(专利权)人: 安徽耐科装备科技股份有限公司
主分类号: B26F1/40 分类号: B26F1/40;B26D7/06;B26D7/27;B26D7/32;B07C5/00
代理公司: 江苏圣典律师事务所 32237 代理人: 许峰
地址: 244061 安徽省铜陵市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 集成电路 冲流道 设备
【说明书】:

本实用新型公开了一种用于集成电路的冲流道设备,包括架体,以及位于机架上的缓存区、冲流道区和收集区。该冲流道设备结构紧凑,提高工作效率。

技术领域

本实用新型涉及集成电路的制造设备,具体来说,涉及一种用于集成电路的冲流道设备。

背景技术

当前,实现集成电路封装之后的流程工作,都由分散的不同设备完成。例如,对集成电路进行冲流道工序,是由冲流道模具完成。在冲流道工序之后,由人工将冲流道之后的成品放置在成品收集装置中,亦或由机械手先将成品从冲流道模具中取出,再将成品放置在成品收集装置中。由于各装置单独设置,一方面占用更多的场地,二是需要更多的操作人员,从而导致产品质量不稳定、不可控,生产效率低、成本高。

发明内容

本实用新型提供一种用于集成电路的冲流道设备,结构紧凑,提高工作效率。

为解决上述技术问题,本实用新型实施例采用以下技术方案:

一种用于集成电路的冲流道设备,包括架体,以及位于架体上的缓存区、冲流道区和收集区。

作为优选例,正常工作时,所述集成电路按照缓存区、冲流道区、收集区顺序流动。

作为优选例,所述冲流道区和收集区并列布设,缓存区位于冲流道区和收集区同一侧。

作为优选例,所述的用于集成电路的冲流道设备,还包括与架体活动连接的抓取装置,抓取装置用于将塑封后的集成电路芯片从缓存区抓取到冲流道区。

作为优选例,所述抓取装置还用于将冲流道后的集成电路芯片从冲流道区抓取到收集区。

作为优选例,所述冲流道区包括第一导轨、含有上模和下模的冲流道模具,所述第一导轨和上模分别与架体连接;下模位于第一导轨上,且可沿第一导轨移动;下模可与上模相对。

作为优选例,所述冲流道区还包括下模清洁装置,下模清洁装置和上模或者架体连接,下模清洁装置用于清洁下模。

作为优选例,所述下模清洁装置包括负压装置和第一管道,第一管道的上端和负压装置的进气口连接。

作为优选例,所述下模清洁装置还包括第二管道,第二管道的一端和负压装置的出气口连接,第二管道的另一端位于废料收集装置中。

作为优选例,所述第一管道的下端呈条状,且沿下模的纵向布设;或者,所述第一管道为多根,多根软管沿下模的纵向布设。

作为优选例,所述的用于集成电路的冲流道设备,还包括第一检测装置,所述第一检测装置和抓取装置连接,所述第一检测装置用于检测从缓存区抓取的塑封后集成电路芯片的中心流道是否完整。

作为优选例,所述第一检测装置包括吸盘、吸盘支架,所述吸盘和吸盘支架连接,所述吸盘支架和抓取装置连接,所述抓取装置为吸盘提供气源。

作为优选例,所述收集区包括依次设置的废品收集子区、检测子区、成品收集子区。

作为优选例,所述收集区包括托架、第二导轨、成品收集装置、废品收集装置和第二检测装置;第二导轨和架体连接;托架位于第二导轨上,可沿第二导轨移动;第二检测装置用于检测冲流道后的集成电路芯片是否合格;成品收集装置用于收集第二检测装置检测合格的集成电路芯片;废品收集装置用于收集第二检测装置检测不合格的集成电路芯片。

作为优选例,所述第二检测装置包括视觉传感器,所述视觉传感器分布在第二导轨的上方和下方,用于对位于检测子区的集成电路芯片进行检测。

作为优选例,所述成品收集装置和废品收集装置均位于第二导轨的下方,成品收集装置位于成品收集子区,废品收集装置位于废品收集子区。

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