[实用新型]一种用于瞬态热阻测试的夹持装置有效
申请号: | 201921705858.2 | 申请日: | 2019-10-12 |
公开(公告)号: | CN211103562U | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 王敏 | 申请(专利权)人: | 西安西派测控技术有限公司 |
主分类号: | B25B11/00 | 分类号: | B25B11/00;G01N25/20 |
代理公司: | 西安吉顺和知识产权代理有限公司 61238 | 代理人: | 张佰鹏 |
地址: | 710117 陕西省西安市雁塔区高*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 瞬态 测试 夹持 装置 | ||
本实用新型公开了一种用于瞬态热阻测试的夹持装置,包括底座,通过在底板中心处固定设有夹持板,顶板和底板的另一侧设有第二侧板,顶板的上对称设有拉力表,拉力表上连接有拉绳,活动板上对称设有固定环,拉绳与固定环连接,活动板下方设有夹块,使用时,将测试器件放置在夹持板上,转动螺纹杆,使其在滑块与滑槽的配合下推动活动板向下移动,在推动时,即可通过拉力表测算出此时向下的拉力,可以根据需要,增加或者减小夹块对夹持板的压力,有益效果:这样的装置结构简单,使用方便,可以在瞬态热阻测试时,根据需要调节不同的夹持力,不会使芯片压碎,或者夹持力过小,增加接触热阻和电阻,影响测试结果。
技术领域
本实用新型涉及热阻测试夹持技术领域,具体来说,涉及一种用于瞬态热阻测试的夹持装置。
背景技术
在半导体器件工艺生产过程中,为快速、有效地检验器件芯片和外壳之间的烧结质量(热阻),一般采用瞬态热阻测试的筛选方法。该方法是向待测半导体器件施加单一功率脉冲,并在脉冲结束后测量热敏参数,推断器件芯片的温升,进而推断器件烧结质量(烧结热阻)的好坏。瞬态热阻的测试能够满足半导体器件工艺生产中的100%筛选,主要剔除那些因芯片烧结质量不合格而导致热阻偏大的器件。在对半导体器件进行瞬态热阻测试时需要对其进行夹持固定,为了保证该半导体器件能够正常工作,需要严格控制夹持装置对半导体器件的夹持力,现有夹持装置往往夹持力过大,压碎芯片,或者夹持力过小,增加接触热阻和电阻,影响测试结果。
针对相关技术中的问题,目前尚未提出有效的解决方案。
实用新型内容
针对相关技术中的问题,本实用新型提出一种用于瞬态热阻测试的夹持装置,以克服现有相关技术所存在的上述技术问题。
本实用新型的技术方案是这样实现的:
一种用于瞬态热阻测试的夹持装置,包括底座,所述底座上设有第一支撑杆,所述第一支撑杆上设有第二支撑杆,所述第一支撑杆与所述第二支撑杆通过调节装置连接,所述第二支撑杆的一端设有第一侧板,所述第一侧板的两端分别设有顶板和底板,所述顶板和所述底板均与所述第一侧板固定连接,所述底板中心处固定设有夹持板,所述顶板和所述底板的另一侧设有第二侧板,所述第一侧板和所述第二侧板之间设有活动板,所述活动板的两端均设有滑块,所述第一侧板和所述第二侧板位于所述滑块的一侧壁上均设有滑槽,所述滑块与所述滑槽相匹配,所述顶板中心处设有螺纹套,所述螺纹套内设有螺纹杆,所述顶板的上对称设有拉力表,所述拉力表上连接有拉绳,所述活动板上对称设有固定环,所述拉绳与所述固定环连接,所述活动板下方设有夹块。
进一步的,所述调节装置包括第一夹板和第二夹板,所述第一夹板和所述第二夹板之间设有紧固轴。
进一步的,所述活动板位于所述螺纹杆下方的位置设有固定板,所述固定板中心处设有螺纹槽。
进一步的,所述第一支撑杆与所述第二支撑杆的材质均为不锈钢。
进一步的,所述底座下方对称设有安装钉。
本实用新型提供了一种用于瞬态热阻测试的夹持装置,有益效果如下:
(1)、通过在底板中心处固定设有夹持板,顶板和底板的另一侧设有第二侧板,第一侧板和第二侧板之间设有活动板,活动板的两端均设有滑块,第一侧板和第二侧板位于滑块的一侧壁上均设有滑槽,滑块与滑槽相匹配,顶板中心处设有螺纹套,螺纹套内设有螺纹杆,顶板的上对称设有拉力表,拉力表上连接有拉绳,活动板上对称设有固定环,拉绳与固定环连接,活动板下方设有夹块,使用时,将测试器件放置在夹持板上,转动螺纹杆,使其在滑块与滑槽的配合下推动活动板向下移动,在推动时,即可通过拉力表测算出此时向下的拉力,可以根据需要,增加或者减小夹块对夹持板的压力,这样的装置结构简单,使用方便,可以在瞬态热阻测试时,根据需要调节不同的夹持力,不会使芯片压碎,或者夹持力过小,增加接触热阻和电阻,影响测试结果。
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