[实用新型]测试工具的延长测试探头及测试工具

说明书

本申请实施例公开了一种测试工具的延长测试探头及测试工具。所述延长测试探头包括：第一连接端，用于与测试工具的探头建立连接；连接线，用于连接第一连接端和第二连接端；第二连接端，与所述第一连接端连接，至少包括：套接接头，所述套接接头，用于与测试对象上的针式接头建立用于测试的测试连接。

技术领域

本申请实施例涉及电子技术，涉及但不限于一种测试工具的延长测试探头及测试工具。

背景技术

万用表是一种多功能、多量程的测量仪表，一般万用表可测量直流电流、直流电压、交流电流、交流电压、电阻和音频电平等，有的还可以测交流电流、电容量、电感量及半导体的一些参数等。相关技术中，万用表至少带有正极和负极两支表笔，笔头通常为探针状。使用时手动使表笔接触待测试的端子，形成信号通路。然而，在各种电子产品的生产制造过程中，常常遇到多管脚的排针测试端子，由于排针测试端子的针式接头间距较近，使用万用表表笔接触时容易发生短路，且不易操作。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供一种测试工具的延长测试探头及测试工具。

根据本申请实施例的第一方面，提供一种测试工具的延长测试探头，包括：

第一连接端，用于与测试工具的探头建立连接；

连接线，用于连接第一连接端和第二连接端；

第二连接端，与所述第一连接端连接，至少包括：套接接头，所述套接接头，用于与测试对象上的针式接头建立用于测试的测试连接。

根据本申请实施例的第二方面，提供一种测试工具，该测试工具具有至少一个探头，连接上述延长测试探头的第一连接端。

在本申请实施例中，通过设置与测试工具的探头相匹配的第一连接端，以及与测试对象的针式接头相匹配的套接接头，提供了便于测试带有针式接头的测试对象的实现方式，减少了测试时接触不良或发生短路的机率。

附图说明

图1A为本申请实施例提供的一种测试工具的延长测试探头的示意图；

图1B为本申请实施例提供的一种测试工具的延长测试探头的实体结构示意图；

图2A为本申请实施例提供的另一种测试工具的延长测试探头的示意图；

图2B为本申请实施例提供的延长测试探头中的连接钩的实体结构示意图；

图3为本申请实施例提供的又一种测试工具的延长测试探头的示意图；

图4为本申请实施例提供的又一种测试工具的延长测试探头的示意图；

图5为本申请实施例提供的又一种测试工具的延长测试探头的示意图；

图6为本申请实施例提供的一种万用表的示意图；

图7为本申请实施例提供的带排针的测试对象示意图；

图8为本申请实施例提供的另一种测试工具的延长测试探头的实体结构示意图。

具体实施方式

本申请实施例提供一种测试工具的延长测试探头，如图1A所示，所述延长测试探头100包括：

第一连接端110，用于与测试工具的探头200建立连接；

连接线130，用于连接第一连接端110和第二连接端120；

第二连接端120，与所述第一连接端110连接，至少包括：套接接头121，所述套接接头，用于与测试对象上的针式接头300建立用于测试的测试连接。