[实用新型]一种老化测试装置

说明书

本实用新型公开了一种老化测试装置，包括用于配置老化测试信息的上位机控制组件、通信组件、电源系统、用于接收和驱动测试信息的信息驱动组件，以及用于装载待测存储器的老化组件，所述上位机控制组件通过所述通信组件与所述信息驱动组件电性连接，所述通信组件和所述信息驱动组件分别与所述电源系统电性连接；所述老化组件包括烘箱和多个间隔设置的老化板，所述老化板设置在所述烘箱内，所述信息驱动组件包括多个用于驱动测试信息的驱动板和用于连接多根信息线的高频连接器，所述驱动板通过所述高频连接器与所述老化板电性连接。其能解决存储器老化测试装置的测试频率不高，而不能满足高速存储器老化测试的问题。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，尤其涉及一种存储器的老化测试装置。

背景技术

现如今国内还没有专门的存储器老化测试设备，无法满足存储器的批量老化测试，要做老化测试也只能放在低速通用集成电路老化设备上测试，集成电路老化设备一般采用较小规模的FPGA芯片作为数字信号的产生，由于高速数字信号传输没有得到有效地解决，最高频率也只能做到1MHZ以下，并随着频率的增加，驱动电流也会大幅下降，导致无法满足大批量高速存储器的老化测试实验。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种老化测试装置，其能解决存储器老化测试装置的测试频率不高，而不能满足高速存储器老化测试的问题。

本实用新型的目的采用以下技术方案实现：

一种老化测试装置，包括用于配置老化测试信息的上位机控制组件、通信组件、电源系统、用于接收和驱动测试信息的信息驱动组件，以及用于装载待测存储器的老化组件，所述上位机控制组件通过所述通信组件与所述信息驱动组件电性连接，所述通信组件和所述信息驱动组件分别与所述电源系统电性连接；所述老化组件包括烘箱和多个间隔设置的老化板，所述老化板设置在所述烘箱内，所述信息驱动组件包括多个用于驱动测试信息的驱动板和用于连接多根信号线的高频连接器，所述驱动板通过所述高频连接器与所述老化板电性连接。

优选的，所述高频连接器为SEAM连接器。

优选的，所述驱动板为高频基板SH260，所述驱动板设置有256路I/O信号通道。

优选的，所述信息驱动组件还包括嵌入式控制单元，所述嵌入式控制单元包括接收老化测试信息的ARM9TDMI芯片，所述ARM9TDMI芯片与所述I/O信号通道电性连接。

优选的，所述信息驱动组件还包括多个用于生成图形测试信号并检测图形测试信号的图形发生与检测单元，所述图形发生与检测单元包括FPGA主控模块，所述FPGA主控模块与所述嵌入式控制单元信号连接。

优选的，所述上位机控制组件包括数据库模块、代码编辑模块、网络通信模块、老化控制模块和参数编辑模块，所述代码编辑模块、所述网络通信模块、所述老化控制模块和所述参数编辑模块分别与所述数据库模块信号连接，所述通信组件、所述参数编辑模块和所述老化控制模块分别与所述网络通信模块信号连接。

优选的，所述上位机控制组件还包括人机交互界面，所述数据库模块、所述代码编辑模块和所述参数编辑模块分别与所述人机交互界面信号连接。

优选的，所述通信组件包括64口的交换式1000M集线器。

优选的，所述老化测试装置还包括第一柜体，所述上位机控制组件和所述电源系统均设置在所述第一柜体内。

优选的，所述老化测试装置还包括第二柜体，所述第二柜体与所述烘箱连接，所述信息驱动组件设置在所述第二柜体内。

相比现有技术，本实用新型的有益效果在于：