[实用新型]用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构

权利要求书

1.用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构，其特征在于：包括被动微波探测设备(1)、二维转台(2)、信号源(4)、测试计算机(5)、喇叭天线(6)，所述被动微波探测设备(1)、二维转台(2)、喇叭天线(6)均位于微波暗室(7)内，所述二维转台(2)的活动端与被动微波探测设备(1)连接，在所述二维转台(2)的内部分别设置用于驱动二维转台(2)活动端作俯仰运动的俯仰动力机构及用于驱动二维转台(2)作周向运动的周向动力机构；所述测试计算机(5)的信号输入端与被动微波探测设备(1)的信号输出端连接，所述测试计算机(5)的信号输出端分别与二维转台(2)及信号源(4)的信号输入端连接，所述信号源(4)的信号输出端与喇叭天线(6)的信号输入端连接。

2.如权利要求1所述的用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构，其特征在于：所述二维转台(2)包括底座(204)、支撑台(203)及顶板(201)，所述顶板(201)构成二维转台(2)的活动端，在所述顶板(201)上开设多个用于连接被动微波探测设备(1)的安装孔(202)；

所述周向动力机构包括安装在支撑台(203)内部的第一电机(211)，所述第一电机(211)的输出端通过联轴器连接外框轴(208)，所述外框轴(208)的一端通过轴承与支撑台(203)配合，所述外框轴(208)的另一端通过轴承与底座(204)配合；

所述俯仰动力机构包括贯穿支撑台(203)左右两侧的支承轴(205)，所述支承轴(205)通过传动机构与第二电机(212)的输出端连接，所述支承轴(205)的两端还与顶板(201)的两侧配合。

3.如权利要求2所述的用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构，其特征在于：所述传动机构包括与支承轴(205)配合的第二齿轮(214)及与第二电机(212)输出端连接的第一齿轮(213)，所述第一齿轮(213)与第二齿轮(214)啮合。

4.如权利要求2所述的用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构，其特征在于：于所述支撑台(203)内部相对的侧壁上还分别安装第一零位传感器(206)及第一编码器(207)；在所述底座(204)上还分别安装第二编码器(209)及第二零位传感器(210)。

5.如权利要求1所述的用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构，其特征在于：所述被动微波探测设备(1)的中心与喇叭天线(6)的中心等高。