[实用新型]剂量当量仪自动测试校准检定装置有效

专利信息
申请号: 201921744382.3 申请日: 2019-10-17
公开(公告)号: CN211148933U 公开(公告)日: 2020-07-31
发明(设计)人: 刘志宏;王歆鑫;但玉娟;于兵;沈义文 申请(专利权)人: 中国测试技术研究院辐射研究所
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 李朝虎
地址: 610000*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 剂量 量仪 自动 测试 校准 检定 装置
【说明书】:

本实用新型公开了剂量当量仪自动测试校准检定装置,该装置包括承载台单元、辐射单元、射线衰减单元、剂量当量仪单元、图像采集单元、接口单元和主处理单元;用该装置可不分节假日24小时连续不间断地对同一组样品进行测试,提高检测效率并对测量结果留有可复查的客观证据,提供了一种替代很难用人工完成的测量装置,避免人工检测存在的工作强度大、效率低等问题,通过将监督剂量当量仪同时置于辐射中,可旁证检测的可靠性;水平移动的衰减片可避免意外停电、或断气、或气压不足等使“被动式累积剂量系统”剂量计样品约定值不准确而报废的发生;通过在射线衰减单元后加装准直器(ZZQ),减小发散角增大带来的附加影响。

技术领域

本实用新型涉及辐射剂量检定,主要涉及剂量当量仪自动测试校准检定装置。

背景技术

为了依据《GB/T 4835.1—2012 防护仪器 β、x和γ辐射周围和/或定向剂量当量(率)仪和/或监测仪 第1部分:便携式工作场所和环境测量仪与监测仪》对辐射防护用周围剂量当量仪进行测试/校准,或依据《GB/T 13161—2015 辐射防护仪器 X、γ、中子和β辐射个人剂量当量Hp(10)和Hp(0.07)直读式个人剂量当量仪》对Hp(10)个人剂量当量仪进行测试,或参照/依据《JJG 393—2018 便携式X、γ辐射周围剂量当量(率)监测仪检定规程》对周围剂量当量仪进行校准/检定,或参照/依据《JJG 1009—2016 X、γ辐射个人剂量当量Hp(10)监测仪检定规程》对个人剂量进行监测用的剂量当量仪进行校准/检定,其中“剂量有效范围的每个数量级内至少取三个剂量值测量响应,在不同剂量值处,同样应使用剂量率额定范围内的不同剂量率值”之规定,在tmax限制下,测量一次的最大测量时间仍然偏长(对于H0=10μSv,tmax大约为几十小时),即使进一步将照射时间低于几十秒的剂量值测量测试点去掉,测量次数仍然偏多;对于一台极常见的剂量当量仪,其有效剂量范围为:10 μSv~1 Sv(5个数量级),剂量率额定范围为:1 μSv/h~1 Sv/h(6个数量级),如图2所示,去掉照射时间超过16小时的测量点,假设放射源的出源/收源移动时间为1秒,将照射时间低于100秒的剂量值测量测试点去掉,一共也有40个照射剂量点,总照射时间达75小时,如果要满足《GB/T 13161—2015》表2(P31)中隐含n≥4 的要求,则照射剂量点更多,总照射时间更长;采用人工测量工作强度大,完成这样的测试是非常费力的。

特别是基于上述剂量率的要求,通常采用(1)不同活度的放射源(甚至不同种类的放射源,例如:低剂量率段使用Cs-137,高剂量率段使用Co-60)获得剂量率的不同数量级,(2)改变测试点与辐射源之间的距离获得不同的剂量率,(3)在测试点与γ辐射源之间通过使用射线衰减单元插入不同衰减量的衰减片来获得不同的剂量率,(4)方案(1)组合(2)或/和(3)使辐射单元输出的剂量率可以涵盖几个数量级。

要完成所有技术指标的测试,辐射单元应包括X射线辐射器和γ射线辐射器。

专利申请号201310556422.2《衰减式自动多量程γ照射装置》等中γ射线衰减器的衰减片用利用空压机产生的压缩气体推动气缸作上下移动方式,且衰减片下降到下端位置时衰减器处于衰减状态。

在意外停电、或断气、或气压不足时,衰减片在重力作用下将离开上端位置,尤其是厚度最大的衰减片在气压不足时离开上端位置最为多见,然而在对“被动式累积剂量系统”(例如:热释光剂量系统、光释光剂量系统)中剂量计样品进行长时间照射处理时,因意外停电、或断气、或气压不足都将导致约定值不准确而使剂量计样品报废,断续工作的空压机产生不稳定的气压偶有衰减片不在“上端位置”被检测到;空气压缩机发出美妙动人音符是实验室充满无限生机的象征,仅春节长假实验室陷入死一般的寂静。

然而,射线穿过衰减器的衰减片时,会出现康普顿散射现象,从而使得射线的发散角增大。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国测试技术研究院辐射研究所,未经中国测试技术研究院辐射研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201921744382.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top