[实用新型]一种沟槽型功率开关器件有效
申请号: | 201921779020.8 | 申请日: | 2019-10-22 |
公开(公告)号: | CN211045443U | 公开(公告)日: | 2020-07-17 |
发明(设计)人: | 张枫;孙军;张振中 | 申请(专利权)人: | 深圳基本半导体有限公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 王震宇 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 沟槽 功率 开关 器件 | ||
1.一种沟槽型功率开关器件,所述功率开关器件为MOSFET、IGBT、肖特基二极管或PiN二极管,所述功率开关器件包括衬底、在所述衬底上通过外延生长形成N型外延层、在所述衬底上刻蚀形成的沟槽、在所述沟槽内部形成的栅极、在所述衬底上通过注入P型掺杂形成的体区、在衬底上进行N型掺杂注入形成的源区、与所述源区相连的源极以及形成在所述衬底上的漏极,其特征在于,还包括通过注入P型掺杂形成的P型埋层和外围P型区,所述P型埋层形成在所述沟槽的底部,所述外围P型区形成在所述沟槽的外围,所述P型埋层与所述外围P型区相连,并通过所述外围P型区接地和源区。
2.如权利要求1所述的沟槽型功率开关器件,其特征在于,在所述沟槽内部具有热氧氧化形成的栅极氧化层,所述栅极在所述栅极氧化层上进行多晶硅淀积形成,所述P型埋层位于所述栅极氧化层的下方。
3.如权利要求1所述的沟槽型功率开关器件,其特征在于,所述衬底为N型衬底。
4.如权利要求3所述的沟槽型功率开关器件,其特征在于,所述衬底为N型硅片。
5.如权利要求1所述的沟槽型功率开关器件,其特征在于,所述N型外延层的厚度为5~6μm。
6.如权利要求1至5任一项所述的沟槽型功率开关器件,其特征在于,所述外围P型区为环绕所述沟槽的P型环。
7.如权利要求1至5任一项所述的沟槽型功率开关器件,其特征在于,在深度方向上,所述外围P型区的上端延伸到所述源区,下端延伸到所述P型埋层。
8.如权利要求1至5任一项所述的沟槽型功率开关器件,其特征在于,在所述衬底上设置有接触孔刻蚀,所述接触孔穿过所述源区进入所述体区。
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