[实用新型]一种可控硅元件温度故障检测装置有效

专利信息
申请号: 201921789712.0 申请日: 2019-10-23
公开(公告)号: CN210922853U 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 韩红英;岳占斌;朱杰;杨国红;张永昌;张晶晶;封梦倩 申请(专利权)人: 金川集团股份有限公司
主分类号: G01K1/02 分类号: G01K1/02;G05B19/05
代理公司: 甘肃省知识产权事务中心 62100 代理人: 罗崇莉
地址: 737103*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要:
搜索关键词: 一种 可控硅 元件 温度 故障 检测 装置
【说明书】:

实用新型公开了一种可控硅元件温度故障检测装置,包括电源控制回路、PLC系统,还包括温度检测装置,所述温度检测装置的输出信号端连接有信号继电器,所述信号继电器与PLC系统连接,所述温度检测装置的输入端接入电源控制回路,所述温度检测装置的控制端接入一组或多组可控硅温度检测回路,每组可控硅温度检测回路包括温度继电器、微动开关,所述温度继电器的线圈与微动开关的辅助常开点连接,所述温度继电器的常开点与温度检测装置的输入端连接;本实用新型能够快速准确发现故障,消除了因小故障引发的大故障,提高了设备运行效率,减少故障率。

技术领域

本实用新型属于可控硅整流技术领域,具体涉及一种可控硅元件温度故障检测装置。

背景技术

整流装置中单个整流元件与熔断器串联,当元件反向击穿时,故障元件支路中的熔断器快速切断故障电路,微动开关动作信号反馈到PLC ,控制柜开始报警输出或者跳闸,每次跳闸到恢复生产都会影响生产。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种可控硅元件温度故障检测装置,以解决现有技术中存在的问题。

为实现上述目的,本实用新型采用的技术方案为: 一种可控硅元件温度故障检测装置,包括电源控制回路、PLC系统,还包括温度检测装置,所述温度检测装置的输出信号端连接有信号继电器,所述信号继电器与PLC系统连接,所述温度检测装置的输入端接入电源控制回路,所述温度检测装置的控制端接入一组或多组可控硅温度检测回路,每组可控硅温度检测回路包括温度继电器、微动开关,所述温度继电器的线圈与微动开关的辅助常开点连接,所述温度继电器的常开点与温度检测装置的输入端连接。

进一步地,每组可控硅温度检测回路与电源控制回路之间设有控制变压器。

本实用新型的有益效果为:当可控硅元件出现小故障时能够快速准确发现故障,消除了因小故障引发的大故障,提高了设备运行效率,减少故障率;单个元件温度检测。

附图说明

图1是本实用新型一种可控硅元件温度故障检测装置示意图。

图中:1、温度检测装置 ; 2、信号继电器 ;3、温度继电器;7、控制变压器;8、PLC系统;9、微动开关。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步的详细描述。

如图1所示,一种可控硅元件温度故障检测装置,包括电源控制回路、PLC系统8,还包括温度检测装置1,所述温度检测装置1的输出信号端连接有信号继电器2,所述信号继电器2与PLC系统8连接,所述温度检测装置1的输入端接入电源控制回路,所述温度检测装置1的控制端接入一组或多组可控硅温度检测回路,每组可控硅温度检测回路包括温度继电器、微动开关,所述温度继电器的线圈与微动开关的辅助常开点连接,所述温度继电器的常开点与温度检测装置1的输入端连接,每组可控硅温度检测回路与电源控制回路之间设有控制变压器7。

本实用新型的原理:温度检测装置1安装于可控硅控制回路,每一组可控硅元件的母线上安装有微动开关9、10、11、12,当某一组可控硅元件母线温度升高,微动开关在设定的温度范围内动作,温度检测继电器3、4、5、6触点动作信号反馈给元件温度检测装置1,温度检测装置有数显装置会显示某一个元件的温度,同时温度检测装置1把信号反馈信号继电器2,信号继电器2发信号送给PLC系统8报警,当可控硅元件损坏2个时,信号继电器2发送信号给PLC系统封锁控制柜的主控板的脉冲。

该装置解决了可控硅元件出现小故障时能够快速准确发现故障,消除了因小故障引发的大故障,提高了设备运行效率。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,对于本领域的技术人员来说,本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

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