[实用新型]一种微波器件OMT气密性测试装置

权利要求书

1.一种微波器件OMT气密性测试装置，包括OMT（1）、测试仪和测试装置，其特征在于：所述OMT（1）包括腔体极化端（101）和连接套端（102），所述测试装置包括固定底板（2）、固定架（3）、可调节挡块（4）、可调节挡板（5）、极化端气缸（6）、连接套端气缸（7）、第一密封组件（8）、第二密封组件（9）和第三密封组件（10）；

所述固定底板（2）通过两侧的可调节挡板（5）设置固定架（3），位于OMT（1）的腔体极化端（101）方向上在所述OMT（1）的上方设有极化端气缸（6），极化端气缸（6）的底端向下延伸设有极化端气缸压头（601），所述OMT（1）顶部的腔体极化端（101）包覆设置第一密封组件（8），第一密封组件（8）设有与极化端气缸压头（601）相对应的测试压头（801），测试压头（801）上开设测试进气孔（11）；

所述OMT（1）的底部通过可调节挡块（4）与固定底板（2）滑动连接，可调节挡块（4）带动OMT（1）在连接套端（102）方向上进行前后位移调节，OMT（1）的底端包覆设置与第一密封组件（8）位置相对应的第二密封组件（9）；

位于OMT（1）的连接套端（102）方向上在所述OMT（1）的后方通过两侧的可调节挡板（5）设置连接套端气缸（7），连接套端气缸（7）的内侧具有一连接套端气缸压头（701），所述OMT（1）后端的连接套端（102）包覆设置第三密封组件（10），第三密封组件（10）具有一个与连接套端气缸压头（701）相对应的密封压头（1001）。

2.根据权利要求1所述的一种微波器件OMT气密性测试装置，其特征在于：所述测试进气孔（11）与测试仪连接。

3.根据权利要求1所述的一种微波器件OMT气密性测试装置，其特征在于：所述第一密封组件（8）、第二密封组件（9）、第三密封组件（10）均为密封垫块，所述第一密封组件（8）、第二密封组件（9）、第三密封组件（10）分别通过定位销钉（12）与OMT（1）连接。

4.根据权利要求1所述的一种微波器件OMT气密性测试装置，其特征在于：所述第一密封组件（8）、第二密封组件（9）、第三密封组件（10）、测试压头（801）、密封压头（1001）与OMT（1）的接触面均设有密封圈。

5.根据权利要求1所述的一种微波器件OMT气密性测试装置，其特征在于：所述极化端气缸（6）设在固定架（3）的中部。

6.根据权利要求1所述的一种微波器件OMT气密性测试装置，其特征在于：所述连接套端气缸（7）通过连接板设在两个可调节挡板（5）之间，两个可调节挡板（5）的端部分别开设调节孔（501），连接板的两端与调节孔（501）均相配合且带动连接套端气缸（7）在调节孔（501）内上下、左右调节。

7.根据权利要求6所述的一种微波器件OMT气密性测试装置，其特征在于：所述连接套端气缸（7）在OMT（1）腔体极化端（101）方向上进行上下位移调节、在连接套端（102）方向上进行前后位移调节。

8.根据权利要求1所述的一种微波器件OMT气密性测试装置，其特征在于：所述腔体极化端（101）与连接套端（102）在工作方向上相互垂直。

9.根据权利要求1所述的一种微波器件OMT气密性测试装置，其特征在于：所述极化端气缸（6）、连接套端气缸（7）分别外接有驱动电机。