[实用新型]一种用于测量薄膜冲击力学性能的落锤式试验设备

说明书

本实用新型涉及一种测量装置，具体是一种用于测量薄膜冲击力学性能的落锤式试验设备。一种用于测量薄膜冲击力学性能的落锤式试验设备，包括支撑架，在支撑架上部具有固定台，固定台的中部具有一孔洞，孔洞内放置有重锤；所述支撑架上固定有固定钳，所述固定钳包括钳柄和钳头，所述钳柄和钳头上均固定有弹簧，钳头前端的底部设置固定罩，所述固定罩的长度大于重锤的长度；在支撑架的底部设置有固定夹具，所述固定夹具包括连接杆和夹头，在固定夹具上方的支撑架上固定有声控照相机。该设备能够及时夹住重锤，避免重锤对测试材料进行二次冲击，影响试验结果。

技术领域

本实用新型涉及一种测量装置，具体是一种用于测量薄膜冲击力学性能的落锤式试验设备。

背景技术

材料冲击试验是一种动态力学试验，它是将具有一定形状和尺寸的试样，在冲击载荷作用下折断，以测定其冲击力和材料韧性的一种试验方法。落锤式冲击试验是常用的一种试验方法，将已知重量的重锤从已知高度垂直下落，冲击试样，测定试验材料的耐冲击性能。薄膜材料在电子信息领域的应用越来越广泛，应用在电子元件中的薄膜常常伴随着高温差、高电磁场、高应力等情况，这对薄膜的机械强度、稳定性和可靠性等提出了较高要求。这些性能的影响都与冲击加载引起的高应变率和高应力效应。现有技术中的落锤式冲击试验设备，大都存在着重锤下落后不能及时固定，造成二次冲击的问题，同时还存在着对薄膜材料测量不够精准、测量结果不易保存等的问题。

实用新型内容

本实用新型所要解决的问题是克服现有技术的不足，提供一种落锤式冲击试验设备，该设备能够及时夹住重锤，避免重锤对测试材料进行二次冲击，影响试验结果。

为解决上述问题，本实用新型采用的技术方案是：一种用于测量薄膜冲击力学性能的落锤式试验设备，包括支撑架，在支撑架上部具有固定台，固定台的中部具有一孔洞，孔洞内放置有重锤；所述支撑架上固定有固定钳，所述固定钳包括钳柄和钳头，所述钳柄和钳头上均固定有弹簧，钳头前端的底部设置固定罩，所述固定罩的长度大于重锤的长度；在支撑架的底部设置有固定夹具，所述固定夹具包括连接杆和夹头，在固定夹具上方的支撑架上固定有声控照相机。

优选的，所述固定钳在不使用的状态时，钳柄处的弹簧处于拉伸状态，而钳头处的弹簧处于自然回缩状态。

优选的，所述固定罩靠近重锤的一侧设置有护垫。

优选的，所述固定夹具设置在支撑架的左右两侧。

优选的，所述连接杆包括第一连接杆和第二连接杆，所述第一连接杆固定在支撑架上，第一连接杆通过螺纹与第二连接杆连接。

优选的，在固定夹具的夹头内侧设置有护垫。

优选的，在重锤的下方贴敷有压电传感器。

优选的，在固定夹具的夹头上固定有位移传感器。

本实用新型的使用方法为：重锤穿孔固定台的孔洞，底部被支撑架上的固定钳夹住，支撑架底部的固定夹具上固定好薄膜检测试样，握住固定钳的钳柄，使其完全闭合，则钳头处大大张开，重锤自固定钳的护罩中自由落下，由于固定钳的钳头大大张开，并不会对重锤造成摩擦。当听到重锤冲击到薄膜检测试样的声音时，松开被握紧的钳柄使其张开，则钳头处闭合可以紧紧夹住重锤，避免重锤二次冲击薄膜检测试样，影响检测结果。同时，当重锤冲击薄膜检测试样发出的声音引发声控照相机拍摄薄膜检测试样被冲击后的状态图片。为了精准的测量薄膜检测试样遭受的冲击，还可以在重锤的下方贴敷压电传感器，适时的将冲击的力量转化为电信号记录下来，同时可以在固定夹具的夹头上或者是薄膜检测试样的底部中心处设置位移传感器，以测试其具体发生的位移量。测试结束后，取下薄膜检测试样在显微镜下进行观察即可。

本实用新型的有益效果在于：