[实用新型]一种芯片测试夹具

说明书

本实用新型涉及一种芯片测试夹具，包括基座和用于托住待测芯片的绝缘托条；对待测芯片进行测试时，先将待测芯片放置在绝缘托条上，而后通过驱动装置驱动第一绝缘条和第二绝缘条近离待测芯片，使导电片与待测芯片的引脚接触，尽而通过外部的测试电路对待测芯片进行测试；并且还可以放置多个待测芯片在绝缘托条上，测试完毕后控制驱动装置驱动第一绝缘条和第二绝缘条远离芯片，而后还可以直接推动最边端的芯片，使绝缘托条上的芯片全部滑走，以提高工作效率；第一垫高条和第二垫高条用于将绝缘托条垫高，以给驱动装置安装的空间，同时还缩小了产品的体积；实现结构简单，成本低，体积小，使用方便，工作效率高。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，更具体地说，涉及一种芯片测试夹具。

背景技术

随着集成电路制造工艺的迅速发展和设计水平的飞速提高，设计者能够将愈来愈复杂的功能集成到单块硅片上，很多功能的元器件都实现了芯片级工艺。然而对于STC89C51或STC89C52的芯片测试夹具大多存在结构复杂，成本高，体积大，并且工作效率低。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种结构简单，成本低，体积小，使用方便，工作效率高的芯片测试夹具。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

构造一种芯片测试夹具，包括基座和用于托住待测芯片的绝缘托条；其中，所述基座上竖向固定连接有第一垫高条和第二垫高条，所述第一垫高条与所述第二垫高条相互平行，所述绝缘托条固定连接在所述第一垫高条和所述第二垫高条的上方；

所述基座上还设置有用于对所述待测芯片的各引脚进行可拆卸电连接的夹具；所述夹具包括第一绝缘条和第二绝缘条，所述第一绝缘条和所述第二绝缘条分别位于所述绝缘托条的两边且均与所述绝缘托条相互平行，所述第一绝缘条和所述第二绝缘条均位于所述第一垫高条和所述第二垫高条的上方；所述待测芯片的引脚分为左右两排，所述第一绝缘条和所述第二绝缘条近离所述绝缘托条的一侧面均设置有与所述待测芯片的多个引脚一一对应的多个导电片；

所述夹具还包括用于驱动所述第一绝缘条和所述第二绝缘条近离或远离所述绝缘托条的驱动装置。

本实用新型所述的芯片测试夹具，其中，所述驱动装置包括第一丝杆和第二丝杆；所述第一丝杆和所述第二丝杆均位于所述第一垫高条与所述第二垫高条之间且均垂直于所述绝缘托条；所述第一丝杆和所述第二丝杆的两端均转动连接有轴承座，所述轴承座与所述基座固定连接；

所述第一丝杆和所述第二丝杆近离所述第一绝缘条的一端的螺纹的旋向均与远离所述第一绝缘条的一端的螺纹的旋向相反；

所述第一绝缘条近离所述第一丝杆的底面和所述第二绝缘条近离所述第一丝杆的底面均固定连接有第一凸块；所述第一绝缘条近离所述第二丝杆的底面和所述第二绝缘条近离所述第二丝杆的底面均固定连接有第二凸块；所述第一凸块上设置有与所述第一丝杆相匹配的螺孔且所述第一凸块在所述第一丝杆上来回移动；所述第二凸块上设置有与所述第二丝杆相匹配的螺孔且所述第二凸块在所述第二丝杆上来回移动。

本实用新型所述的芯片测试夹具，其中，所述第一丝杆近离所述第二绝缘条的一端固定连接有第一同步带轮，所述第二丝杆近离所述第二绝缘条的一端固定连接有第二同步带轮，所述第一同步带轮齿合有同步带，所述同步带还与所述第二同步带轮相齿合。

本实用新型所述的芯片测试夹具，其中，所述第一丝杆或所述第二丝杆的任一一端还固定连接有摇轮。

本实用新型所述的芯片测试夹具，其中，所述导电片还连接有导线，所述导线的另一端与外部的测试电路连接。

本实用新型所述的芯片测试夹具，其中，所述绝缘托条的任意一端还固定连接有限位块，所述限位块位于所述绝缘托条的顶面。