[实用新型]一种纳米材料的电性测试仪

说明书

本实用新型公开了一种纳米材料的电性测试仪，包括一侧设有开口的箱体，所述箱体的顶部固定安装有透射电子显微镜本体，透射电子显微镜本体的底部延伸至箱体内，箱体的两侧内壁上固定安装有同一个支撑板，支撑板的顶部开设有两个滑槽，滑槽内滑动安装有滑块，滑块的顶部延伸至对应的滑槽外，两个滑块的顶部设有同一个纳米材料本体，纳米材料本体的顶部设有两个卡块，滑块的顶部开设有第一凹槽。本实用新型结构简单，操作方便，通过伺服电机和两个推杆电机提供动力就能快速的对纳米材料本体进行固定并拉伸或挤压，从而方便人们在不同应力作用下观察测试纳米材料本体的电性，提高了测试速度，给人们带来了很大的便利。

技术领域

本实用新型涉及电性测试仪技术领域，尤其涉及一种纳米材料的电性测试仪。

背景技术

随着科技的不断发展，新材料技术领域取得了很大的突破，大量的新材料被研发出来，纳米材料是当前新材料领域的代表，主要指在三维空间中至少有一维处于纳米尺寸或由它们作为基本单元构成的材料，应用领域十分广泛，纳米材料在生产过程中需要使用进行电性测试仪进行电性测试，当前使用的纳米材料电性测试仪基本都是采用透射电子显微镜来观察纳米材料的原子尺度信息，进而了解其电性，但是当前使用的电性测试仪设计还存在不足之处，其不便于对纳米材料进行拉伸或挤压，不便于人们在不同应力作用下观察纳米材料的电性，不利于测试工作的快速进行，给人们带来了很多麻烦，为此我们提出一种纳米材料的电性测试仪，以此来解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种纳米材料的电性测试仪。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种纳米材料的电性测试仪，包括一侧设有开口的箱体，所述箱体的顶部固定安装有透射电子显微镜本体，透射电子显微镜本体的底部延伸至箱体内，箱体的两侧内壁上固定安装有同一个支撑板，支撑板的顶部开设有两个滑槽，滑槽内滑动安装有滑块，滑块的顶部延伸至对应的滑槽外，两个滑块的顶部设有同一个纳米材料本体，纳米材料本体的顶部设有两个卡块，滑块的顶部开设有第一凹槽，第一凹槽内固定安装有推杆电机，推杆电机输出轴的顶端延伸至对应的第一凹槽外并焊接在对应的卡块的底部，滑块上开设有螺纹通孔，螺纹通孔内螺纹安装有螺杆，支撑板的底部开设有第二凹槽，第二凹槽的两侧内壁上均开设有第一通孔，两个第一通孔分别与对应的滑槽连通，两个螺杆相互靠近的一端均延伸至第二凹槽内并焊接有第一锥型齿轮，且两个螺杆分别转动安装在对应的第一通孔内，箱体的底部内壁和支撑板的底部固定安装有同一个伺服电机，伺服电机输出轴的顶端延伸至第二凹槽内并焊接有转轴，转轴的顶端焊接有第二锥型齿轮，第二锥型齿轮与两个第一锥型齿轮均啮合。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述第二凹槽的侧壁上固定安装有固定块，固定块上开设有第二通孔，转轴转动安装在第二通孔内。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述螺杆上转动套设有轴承，轴承的外圈固定安装在对应的第一通孔的内壁上。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述滑块上开设有第三通孔，滑槽的两侧内壁上固定安装有同一个滑杆，滑杆滑动安装在对应的第三通孔内。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述滑槽远离第二凹槽的一侧内壁上开设有第三凹槽，第三凹槽内转动安装有销轴，螺杆远离第二凹槽的一端延伸至对应的滑槽内并焊接在销轴上。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述第二通孔的内壁上开设有环型凹槽，环型凹槽内转动安装有环型卡块，环型卡块固定套设在转轴上，箱体的一侧固定安装有控制器，控制器型号为GT-JDG6-180ZGT-JDG6-180Z。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：