[实用新型]一种功率半导体器件的终端结构及功率半导体器件有效

专利信息
申请号: 201921897573.3 申请日: 2019-11-05
公开(公告)号: CN211182210U 公开(公告)日: 2020-08-04
发明(设计)人: 曾丹;史波;刘勇强 申请(专利权)人: 珠海格力电器股份有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L21/336;H01L21/331
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 刘红彬
地址: 519070 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 功率 半导体器件 终端 结构
【权利要求书】:

1.一种功率半导体器件的终端结构,其特征在于,包括:

衬底和位于所述衬底上的外延层;

位于所述外延层内的耐压环、位于所述外延层内且位于所述耐压环外围的截止环、依次设置于所述耐压环和所述截止环上的介质层、金属层和钝化层,所述耐压环、截止环、介质层、金属层和钝化层形成耐压终端结构;其中,

所述截止环的外侧设有划片槽,所述截止环与所述划片槽之间的部位设有凹陷,所述钝化层伸入所述凹陷内以包覆所述截止环和所述金属层。

2.根据权利要求1所述的功率半导体器件的终端结构,其特征在于,所述耐压环包括一个主结和多个分压环。

3.根据权利要求1所述的功率半导体器件的终端结构,其特征在于,所述截止环的一端位于所述外延层的顶部,另一端位于所述凹陷的侧面。

4.根据权利要求1所述的功率半导体器件的终端结构,其特征在于,每一个所述耐压环为场限环结构、场限环加场板结构、终结端扩展结构和横向变掺杂结构中的一个。

5.根据权利要求1所述的功率半导体器件的终端结构,其特征在于,所述凹陷的深度为0.1~10μm。

6.一种功率半导体器件,其特征在于,包括多个如权利要求1~5任一项所述的功率半导体器件的终端结构。

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